[发明专利]基于压降消除装置测量PT二次回路压降的方法

摘要

本发明公开了一种基于压降消除装置测量PT二次回路压降的电路，包括依次串接的PT输出端、PT二次回路、压降消除装置、电能表以及并联接在PT输出端的等效电阻，在PT输出端与压降消除装置内部输入端分别引出两路，一路通过开关K1连接等效电阻，另一路依次串接继电器K0、电压采样模块、电压相位检测模块以及处理器；压降消除装置的内部输入端设有开关K2，压降消除装置内部输出端设有开关K3，开关K2和开关K3之间设有用于切除压降消除装置恢复原PT二次回路状态的旁路。

主权项

一种基于电压跟随器原理的PT二次回路压降消除装置测量PT二次回路压降的方法，该方法运行于基于压降消除装置测量PT二次回路压降的电路，所述电路包括依次串接的PT输出端、PT二次回路、压降消除装置、电能表，以及并联接在PT输出端的等效电阻，其特征在于，在PT输出端与PT二次回路之间引出一路通过开关K1连接等效电阻，PT二次回路与压降消除装置内部输入端之间分别引出一路依次串接继电器K0、电压采样模块、电压相位检测模块以及CPU处理器；压降消除装置内部输入端设有开关K2，压降消除装置内部输出端和电能表之间设有开关K3，开关K2和开关K3之间设有用于切除压降消除装置的旁路；其特征在于，所述方法包括：在压降装置正常运行工作时，开关K1、K2、K3合上；输入测量指令，CPU处理器控制电压测量模块继电器K0合上；CPU处理器指令电压采样模块采样压降消除装置输入端电压UI，电压UI的对应三相电压幅值为VI(A)、VI(B)、VI(C)、相位为ΦI(A)、ΦI(B)、ΦI(C)，信号送入电压、相位检测模块进行计算、分析、比较、进行测量条件判断，符合测量条件的数据保存在CPU处理器中；开关K2和开关K3连通旁路、开关K1同时断开切除压降消除装置恢复原PT二次回路状态，电压采样模块在压降消除装置输入端采样压降消除装置输出端电压UO，压降消除装置输出端电压UO等于电能表端电压UD，其三相电压幅值为VO(A)、VO(B)、VO(C)、相位为ΦO(A)、ΦO(B)、ΦO(C)，信号送入电压、相位检测模块进行计算、分析、比较、进行测量条件判断，符合测量条件的数据保存在CPU处理器中并进行处理；电压UO采样完成开关K2和开关K3立即连通压降消除装置、开关K1同时合上，压降消除装置投入运行；测量结束，自动断开继电器K0；结合压降消除装置中对负荷电流的测量，实现PT二次回路负荷测量。