[发明专利]文拉法辛晶体的近红外光谱快速鉴别方法在审
申请号: | 201510428400.7 | 申请日: | 2015-07-15 |
公开(公告)号: | CN106353280A | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 范琦;曹丽亚;李瑒;刘沙 | 申请(专利权)人: | 重庆医科大学 |
主分类号: | G01N21/359 | 分类号: | G01N21/359;G01N21/3563 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 400016 重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明提供一种快速、无损的文拉法辛晶型鉴别方法。方法步骤包括(1)收集文拉法辛不同晶型的样品;(2)使用近红外光谱仪以最优的光谱测量参数值采集文拉法辛不同晶型样品的近红外光谱(NIRS);(3)以最优的化学计量学预处理方法对文拉法辛不同晶型样品的NIRS进行预处理;(4)采用最优建模光谱范围、适当的光谱数据维度建立文拉法辛晶型的化学计量学鉴别模型;(5)评价所建文拉法辛晶型化学计量学鉴别模型的性能;(6)应用所建文拉法辛晶型化学计量学鉴别模型鉴别未知文拉法辛晶体的晶型。 | ||
搜索关键词: | 文拉法辛 晶体 红外 光谱 快速 鉴别方法 | ||
【主权项】:
近红外光谱法快速无损鉴别文拉法辛晶型的方法,主要包括以下步骤:(1)收集文拉法辛不同晶型的样品;(2)使用近红外光谱仪以最优的光谱测量参数值采集文拉法辛不同晶型样品的近红外光谱;(3)以最优的化学计量学预处理方法对文拉法辛不同晶型样品的近红外光谱进行预处理;(4)采用最优建模光谱范围、适当的光谱数据维度建立文拉法辛晶型的化学计量学鉴别模型;(5)评价所建文拉法辛晶型化学计量学鉴别模型的性能;(6)应用所建文拉法辛晶型化学计量学鉴别模型鉴别未知文拉法辛晶体的晶型。
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