[发明专利]二维共焦显微非线性强度扫描系统和测量方法有效

专利信息
申请号: 201510428561.6 申请日: 2015-07-20
公开(公告)号: CN105067528B 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 王俊;李源鑫;董宁宁;张赛锋 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/41
代理公司: 上海新天专利代理有限公司31213 代理人: 张泽纯,张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明是将非线性强度扫描和共焦显微成像集成在一起的,用于测量样品的非线性光学性质,并能测绘样品微区非线性光学系数的二维空间分布的光学测量系统。本发明可以用于样品的二维微区的非线性光学性质的测绘,尤其适用于不均匀样品微区或者微观样品的非线性性质的测量。本系统可以同时测量样品的非线性吸收和非线性折射性质,采用自动化测量,具有快速、高效和灵敏的特点。
搜索关键词: 二维 显微 非线性 强度 扫描 系统 测量方法
【主权项】:
一种二维共焦显微非线性强度扫描系统,其特征在于系统结构包含作为激发光源的脉冲激光器(1),沿该脉冲激光器(1)的输出光束方向依次为第一镀膜全反镜(2)、第一小孔光阑(3)、第二小孔光阑(4)、第二镀膜全反镜(5)、电控旋转台(6)、偏振片(8)、第一分光平片(9)、聚焦物镜(11)、待测样品(12)、收集物镜(13)、第二分光平片(14)、第三小孔光阑(15)、第三分光平片(16)和成像相机(17);所述的脉冲激光器(1)与激光器控制器(31)连接;沿所述的第一分光平片(9)的反射光方向依次为第一中性密度滤光片(18)、第一透镜(19)和第一探测器(20);所述的第一分光平片(9)的反射光方向的另一侧为照明光源氙灯(10);沿所述的第二分光平片(14)的反射方向依次为第二中性密度滤光片(21)、第二透镜(22)和第二探测器(23);沿所述的第三分光平片(16)反射光方向依次为第三中性密度滤光片(24)、第三透镜(25)和第三探测器(26);所述的第一探测器(20)、第二探测器(23)和第三探测器(26)的输出端经由数据采集卡(28)连接到计算机(29)的输入端;所述的电控旋转台(6)的旋转轴与光轴重合,并且中心为通孔,通孔中安装有格兰泰勒棱镜(7);所述的电控旋转台(6)连接在控制器(30)的控制端,该控制器(30)与计算机(29)相连接;所述的成像相机(17)的输出端与所述的计算机(29)的输入端连接;所述的待测样品(12)安置在二维精密平移台(27)上;该二维精密平移台(27)通过控制器(30)与所述的计算机(29)相连;能量计(32)的输出端与所述的计算机(29)的输入端相连;所述的第一镀膜全反镜(2)、第二镀膜全反镜(5)、第一分光平片(9)、第二分光平片(14)、第三分光平片(16)与光路的夹角为45°。
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