[发明专利]温度测量方法、测量模块及基于该模块的温度测量装置在审

专利信息
申请号: 201510434791.3 申请日: 2015-07-22
公开(公告)号: CN105004429A 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 薛萍;魏树辉;王宏民;邹学周;杨新华 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 岳昕
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 温度测量方法、测量模块及基于该模块的温度测量装置,涉及温度测量技术。它为了解决接触测量法不适合测量LED的结温以及现有的红外热成像设备中能够直接显示温度的设备价格昂贵且笨重,并且无法直接给出待测物体的温度值的问题。读取图像灰度值,通过灰度值计算出相对辐射强度,根据相对辐射强度得到相对应的温度值,嵌入有软件实现的温度测量模块的计算机结合红外热成像设备可以测量LED的结温。本发明利用只能显示图像的红外热成像设备就能得到图像中每点的温度值,与能够直接显示温度的红外热成像设备相比,价格便宜而且便捷,适合普遍应用,并能实现对LED的非接触测量。适用于测量温度。
搜索关键词: 温度 测量方法 测量 模块 基于 装置
【主权项】:
温度测量方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:第一设定步骤:设定调色板参数、采集参数和数据位;图像采集步骤:实时采集图像,抓取并保存采集到的图像;图像显示步骤:读取并显示已保存的图像;第二设定步骤:设定灰度矩阵参数;灰度矩阵显示步骤:显示出图像中每点的灰度值:选择步骤:接收用户输入的坐标点指令;读取步骤:根据坐标点指令读取相应的坐标点的坐标值及对应该坐标点的灰度值;第一计算步骤:根据读取步骤中的灰度值计算相对辐射强度;第二计算步骤:根据相对辐射强度计算相对应的温度值;温度显示步骤:显示第二计算步骤得到的温度值。
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