[发明专利]一种铸造缩孔缺陷图像生成方法有效
申请号: | 201510437966.6 | 申请日: | 2015-07-22 |
公开(公告)号: | CN105095581B | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 梁兆敏;黄茜;颜伟鑫 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06T11/00 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 陈宏升 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开的一种基于diamond‑square算法的铸造缩孔缺陷图像生成方法,包括缺陷图像生成、缺陷图像变换处理、融合产品结构背景三个阶段,所述缺陷图像生成阶段包括二维数组的构建,高程数据的生成与存储,高程数据的归一化处理;所述缺陷图像变换处理阶段包括缺陷图像的直方图均衡化处理、阈值化处理、高斯滤波、灰度拉伸;所述融合产品结构背景阶段包括缺陷图像的归一化处理,背景图像与缺陷图像的点乘。本发明的方法,在生成铸造缩孔缺陷图像的过程中具有很好的随机性和仿真性,生成的缺陷可用于示教、增加样本以及测试缺陷检测算法。 | ||
搜索关键词: | 一种 铸造 缩孔 缺陷 图像 生成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种铸造缩孔缺陷图像生成方法,其特征在于,包括缺陷图像生成、缺陷图像变换处理、融合产品结构背景三个阶段,具体为:S1.缺陷图像生成阶段:S101.构建一个(2n+1)×(2n+1)的二维数组,该二维数组为空二维数组,n的取值范围为(1,10);S102.利用diamond‑square算法生成(2n+1)×(2n+1)大小的高程数据,并将其对应地存储在步骤S101建立的二维数组中;具体包括以下步骤:S102‑1.步骤S101生成的(2n+1)×(2n+1)二维数组即(2n+1)×(2n+1)个像素的正方形,以5*5的正方形作为diamond‑square算法即正方形迭代分形示意图,用范围(‑1,1)的随机值初始化正方形四个角点A、B、C、D的高程值,分别设定为hA、hB、hC、hD,并根据hA、hB、hC、hD总和的平均值加上一范围在(‑1,1)的随机值
来确定该正方形中心点M的高程值,则中心点M的高程值为
S102‑2.将正方形划分为4个子正方形,并根据角点A、B、C、D的高程值与中心点M的高程值与范围(‑1,1)的随机值分别确定这4个子正方形边界中点E、F、G、H的高程值,则其高程值分别为![]()
S102‑3.重复步骤S102‑2,递归划分各子正方形,直到确定正方形所有高程点的高程值,并将其一一对应地存储到步骤S101建立的二维数组中;S103.对二维数组中的高程数据进行归一化处理;S104.将归一化处理后的高程数据与8位灰度值图像的最大灰度值即255相乘,并将其作为所生成的缺陷图像;S2.缺陷图像变换处理阶段:S201.对经步骤S104处理得到的缺陷图像进行直方图均衡化;S202.对经步骤S201处理得到的缺陷图像进行相应的阈值化;S203.对经步骤S202处理得到的图像进行高斯滤波;S204.对经步骤S203处理得到的图像进行灰度拉伸;S205.重复步骤S201~S204,得到变换处理后的缺陷图像;S3.融合产品结构背景阶段:S301.截取部分真实铸件中带缺陷的图像;S302.经纹理合成处理后,将步骤S301的图像除去缺陷后作为背景图像I;S303.对背景图像I计算检测出其最大灰度值Imax、最小灰度值Imin,计算H=255/Imax的值;S304.将步骤S303中的H值作为缺陷图像的归一化上限,并对由步骤S205得到的缺陷图像进行归一化得到缺陷图像D;S305.将背景图像I和缺陷图像D进行点乘,得到最终的缺陷图像M=I*D。
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