[发明专利]质量测量修正方法及系统有效
| 申请号： | 201510441725.9 | 申请日： | 2015-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN105258778B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 任孝平;王健;蔡常青 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01G23/01 | 分类号： | G01G23/01 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 刘明华 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种质量测量修正方法及系统。该方法可以包括：对标准砝码和待测砝码进行多次测量，以获得标准砝码和待测砝码的多个示值；对标准砝码和待测砝码的多个示值进行空气浮力修正和表面吸附质量修正，以获得标准砝码和待测砝码的修正后的多个示值；基于修正后的多个示值计算待测砝码与标准砝码之间的示值差值；以及基于示值差值计算待测砝码与标准砝码之间的真空质量差值，以获得待测砝码的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 标准砝码 砝码 修正 质量测量 空气浮力修正 表面吸附 差值计算 多次测量 质量修正 | ||
【主权项】：
一种质量测量修正方法，所述方法包括如下步骤：对标准砝码和待测砝码进行多次测量，以获得标准砝码和待测砝码的多个示值；对标准砝码和待测砝码的多个示值进行空气浮力修正和表面吸附质量修正，以获得标准砝码和待测砝码的修正后的多个示值；基于修正后的多个示值计算待测砝码与标准砝码之间的示值差值；以及基于示值差值计算待测砝码与标准砝码之间的真空质量差值，以获得待测砝码的质量，其中，所述空气浮力修正包括：基于表面积相同而体积不同的第一修正砝码和第二修正砝码在真空状态下测得的质量差值和在空气状态下测得的质量差值，计算空气密度；基于所述空气密度与标准砝码和待测砝码的体积以计算空气浮力，以进行空气浮力修正，其中，所述表面吸附质量修正包括：基于体积相同而表面积不同的第三修正砝码和第四修正砝码在真空状态下测得的质量差值和在空气状态下测得的质量差值，计算表面吸附率；基于表面吸附率与标准砝码和待测砝码的表面积以计算表面吸附质量，以进行表面吸附质量修正。
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