[发明专利]用于测量气体密度的方法及测量系统在审

专利信息
申请号: 201510441727.8 申请日: 2015-07-25
公开(公告)号: CN105241787A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 任孝平;王健;蔡常青;姚弘;丁京鞍;钟瑞麟 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01N9/00 分类号: G01N9/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 刘明华
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及计量领域,公开了一种用于测量气体密度的方法及测量系统。该方法包括:得到第一对象和第二对象在气体环境中的质量差m1-air-m2-air,其中m1-air为第一对象在所述气体环境中的质量,m2-air为第二对象在所述气体环境中的质量;得到第一对象和第二对象在真空环境中的质量差m1-vacuum-m2-vacuum,其中m1-vacuum为第一对象在真空环境中的质量,m2-vacuum为第二对象在真空环境中的质量;得到第一对象和第二对象之间的体积差V1-V2,其中第一对象的体积为V1,第二对象的体积为V2,且第一对象的体积V1和第二对象的体积V2不相等;基于下式计算所述气体的密度ρair应用本公开所公开的技术方案,可在不依赖环境参数的情况下来测量气体的密度。
搜索关键词: 用于 测量 气体 密度 方法 系统
【主权项】:
一种用于测量气体密度的方法,该方法包括:得到第一对象和第二对象在气体环境中的质量差m1‑air‑m2‑air,其中m1‑air为第一对象在所述气体环境中的质量,m2‑air为第二对象在所述气体环境中的质量;得到第一对象和第二对象在真空环境中的质量差m1‑vacuum‑m2‑vacuum,其中m1‑vacuum为第一对象在真空环境中的质量,m2‑vacuum为第二对象在真空环境中的质量;得到第一对象和第二对象之间的体积差V2‑V1,其中第一对象的体积为V1,第二对象的体积为V2,且第一对象的体积V1和第二对象的体积V2不相等;基于下式计算所述气体的密度ρair<mrow><msub><mi>&rho;</mi><mrow><mi>a</mi><mi>i</mi><mi>r</mi></mrow></msub><mo>=</mo><mfrac><mrow><mo>(</mo><msub><mi>m</mi><mrow><mn>1</mn><mo>-</mo><mi>a</mi><mi>i</mi><mi>r</mi></mrow></msub><mo>-</mo><msub><mi>m</mi><mrow><mn>2</mn><mo>-</mo><mi>a</mi><mi>i</mi><mi>r</mi></mrow></msub><mo>)</mo><mo>-</mo><mo>(</mo><msub><mi>m</mi><mrow><mn>1</mn><mo>-</mo><mi>v</mi><mi>a</mi><mi>c</mi><mi>u</mi><mi>u</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>-</mo><msub><mi>m</mi><mrow><mn>2</mn><mo>-</mo><mi>v</mi><mi>a</mi><mi>c</mi><mi>u</mi><mi>u</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow><mrow><msub><mi>V</mi><mn>2</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>V</mi><mn>1</mn></msub></mrow></mfrac><mo>.</mo></mrow>
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