[发明专利]用于测量气体密度的方法及测量系统在审
申请号: | 201510441727.8 | 申请日: | 2015-07-25 |
公开(公告)号: | CN105241787A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 任孝平;王健;蔡常青;姚弘;丁京鞍;钟瑞麟 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01N9/00 | 分类号: | G01N9/00 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 刘明华 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及计量领域,公开了一种用于测量气体密度的方法及测量系统。该方法包括:得到第一对象和第二对象在气体环境中的质量差m1-air-m2-air,其中m1-air为第一对象在所述气体环境中的质量,m2-air为第二对象在所述气体环境中的质量;得到第一对象和第二对象在真空环境中的质量差m1-vacuum-m2-vacuum,其中m1-vacuum为第一对象在真空环境中的质量,m2-vacuum为第二对象在真空环境中的质量;得到第一对象和第二对象之间的体积差V1-V2,其中第一对象的体积为V1,第二对象的体积为V2,且第一对象的体积V1和第二对象的体积V2不相等;基于下式计算所述气体的密度ρair:应用本公开所公开的技术方案,可在不依赖环境参数的情况下来测量气体的密度。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 气体 密度 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种用于测量气体密度的方法,该方法包括:得到第一对象和第二对象在气体环境中的质量差m1‑air‑m2‑air,其中m1‑air为第一对象在所述气体环境中的质量,m2‑air为第二对象在所述气体环境中的质量;得到第一对象和第二对象在真空环境中的质量差m1‑vacuum‑m2‑vacuum,其中m1‑vacuum为第一对象在真空环境中的质量,m2‑vacuum为第二对象在真空环境中的质量;得到第一对象和第二对象之间的体积差V2‑V1,其中第一对象的体积为V1,第二对象的体积为V2,且第一对象的体积V1和第二对象的体积V2不相等;基于下式计算所述气体的密度ρair:
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