[发明专利]一种用于存储介质数据销毁的校验方法

摘要

本发明实施例提供一种用于存储介质数据销毁的校验方法，包括将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；根据目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；基于预设的加密算法，将第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行组合加密，生成校验密文序列后写入目标存储介质中指定的校验存储区域；校验核查时，对校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与存储介质上的显性信息核对以验证目标存储介质的数据销毁信息。采用本发明提供的方法，通过技术手段，可以解决现有由于人工疏忽或者故意出现的校验不准确，导致数据外泄的问题。

主权项

一种用于存储介质数据销毁的校验方法，其特征在于，包括：将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理；根据所述目标存储介质的数据销毁特征信息提取生成第一加密电子特征码以及根据所述目标存储介质的固有属性信息提取生成第二加密电子特征码；基于预设的加密算法，将所述第一加密电子特征码和第二加密电子特征码进行加密，生成校验密文序列后写入所述目标存储介质中指定的校验存储区域；校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列进行解密处理，将生成的解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息；将待数据销毁的目标存储介质进行数据销毁处理后，将生成的校验密文序列和数据销毁信息一并写入数据销毁报告并打印输出，则在校验核查时，对所述校验存储区域的校验密文序列以及数据销毁报告中的校验密文序列一并进行解密，并将解密结果与所述存储介质上的显性信息核对以验证所述目标存储介质的数据销毁信息。