[发明专利]一种光源检测方法及检测装置有效

专利信息
申请号: 201510443746.4 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN106370396B 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 夏俊 申请(专利权)人: 深圳市安普盛科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于光学检测技术领域,提供了一种光源检测方法,包括:使待检测光源通过小孔成像镜头形成倒立实像;图像传感器接收倒立实像并将光信号转换为图像数字信号,获得待处理图像;对待处理图像进行离散傅里叶变换获得特征频谱信息;基于特征频谱信息进行图像重构;对重构图像数字信号进行特征图像分割抽取得到特征子图像;将特征子图像和待处理图像做滤波运算处理,输出特性特征矩阵;对特性特征矩阵进行变换得到待检测光源的特性信息。本发明利用小孔成像镜头进行成像,小孔成像具有光通量小、无限景深、自动变焦的特点,可有效解决过曝光问题且降低对图像传感器位置的精确要求;通过特征频谱信息提取和图像重构可消除干扰,提高抗干扰性。
搜索关键词: 一种 光源 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种光源检测方法,其特征在于,包括下述步骤:使待检测光源发出的光线通过小孔成像镜头形成倒立实像;通过图像传感器接收所述倒立实像,并将所述倒立实像的光学信号转换为图像数字信号,获得待处理图像;对所述待处理图像进行离散傅里叶变换,获得特征频谱信息;基于所述特征频谱信息进行图像重构,获得消除了干扰信息的重构图像数字信号;对所述重构图像数字信号进行特征图像分割抽取,得到包含待检测光源特性信息的特征子图像;将所述特征子图像和所述待处理图像做滤波运算处理,输出特性特征矩阵;对所述特性特征矩阵进行变换,得到待检测光源的特性信息。
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