[发明专利]一种多通道可调激光器的性能测试装置有效

专利信息
申请号: 201510449402.4 申请日: 2015-07-28
公开(公告)号: CN105115700B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 钱坤;傅焰峰;汤学胜;唐毅;陈义宗;张玓;胡胜磊;马卫东 申请(专利权)人: 武汉光迅科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司11340 代理人: 刘黎明
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种多通道可调谐激光器的性能测试装置,包括准直耦合透镜(3)、第一分光束器(4)、功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)、波长测试单元(7)、控制与驱动单元(8),第一分束器(4)的反射光路设置功率测试单元(5);第一分束器(4)的透射光路设置波长测试单元(7),第二分束器(501)的反射光路设置边模抑制比测试单元(6),控制与驱动单元(8)同功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)、波长测试单元(7)控制相连,本发明具有结构简单、成本低、使用便捷等优点。
搜索关键词: 一种 通道 可调 激光器 性能 测试 装置
【主权项】:
一种多通道可调谐激光器的性能测试装置,其特征在于:包括准直耦合透镜(3)、第一分光束器(4)、功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)、控制与驱动单元(8)、波长测试单元(7),控制与驱动单元(8)同功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)控制相连;功率测试单元(5)包括第二分光束器(501)、第一光探测器(502),第一光探测器(502)位于第二分光束器(501)的透射光路,第二分光束器(501)位于第一分光束器(4)的反射光路;边模抑制比测试单元(6)包括第三分光束器(601)、第四分光束器(604)、第一标准具(602)、第二标准具(605)、第三标准具(607)、第二光探测器(603)、第三光探测器(606)、第四光探测器(608);所述第三分光束器(601)位于第二分光束器(501)的反射光路中,第三分光束器(601)的反射光路依次设置第一标准具(602)、第二光探测器(603);第三分光束器(601)的透射光路设置有第四分光束器(604),第四分光束器(604)的反射光路依次设置第二标准具(605)、第三光探测器(606);第四分光束器(604)的透射光路依次设置第三标准具(607)、第四光探测器(608);所述第一标准具(602)、第二标准具(605)、第三标准具(607)的自由光谱范围是待测所述可调谐激光器通道间隔的三倍,任意两个标准具的透射峰之间的最近距离为所述待测可调谐激光器的通道间隔;波长测试单元(7)设置于第一分光束器(4)透射光路,波长测试单元(7)和控制与驱动单元(8)相连接,波长测试单元(7)包括第五分光束器(701)、第六分光束器(704)、可调光滤波器(702)、第四标准具(705)、第五光探测器(703)、第六光探测器(706)、第七光探测器(707),第五分光束器(701)的透射光路依次设置可调光滤波器(702)、第五光探测器(703);第五分光束器(701)的反射光路设置有第六分光束器(704),第六分光束器(704)的透射光路设置第七光探测器(707),第六分光束器(704)的反射光路依次设置第四标准具(705)、第六光探测器(706)。
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