[发明专利]时分复用光纤传感器阵列的脉冲延时自动测量方法在审

专利信息
申请号: 201510452489.0 申请日: 2015-07-28
公开(公告)号: CN105136316A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 张敏;刘飞 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种时分复用光纤传感器阵列的脉冲延时自动测量方法,本发明从接收到的光纤传感阵列的相应脉冲的特点出发,根据干涉脉冲序列的特点和设定的各项参数,例如脉冲幅值阈值、低电平信号阈值、起始脉冲的预定幅值、延时阈值等提取出每组脉冲序列中延时参数,同时可以通过统计多组脉冲序列中的延时参数出现的频次,将出现频次最多的延时参数作为最终的延时参数。该方法完全实现了对光纤传感阵列延时参数测量的自动处理,可以通过多项参数的设定使得方法满足不同条件下延时参数测定,通过统计的方法消除了参数测量时的误差,延时参数测量准确率可达到100%。
搜索关键词: 时分 用光 传感器 阵列 脉冲 延时 自动 测量方法
【主权项】:
一种时分复用光纤传感器阵列的脉冲延时自动测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S1、获取包含定位脉冲以及光纤传感器阵列返回的响应脉冲的光脉冲,其中所述响应脉冲包括脉冲序列,所述脉冲序列包括位于其起始位置的起始脉冲、位于其结束位置的结束脉冲以及位于所述脉冲序列起始位置与结束位置之间的干涉脉冲序列,所述干涉脉冲序列中各个干涉脉冲对应于所述光纤传感器阵列中各个光纤传感器的检测信号;S2、对去除所述定位脉冲后的所述光脉冲进行去直流和归一化处理;S3、根据脉冲幅值阈值确定所述步骤S2处理后得到的光脉冲中各个脉冲的上升沿的位置和下降沿的位置,确定所述步骤S2处理后得到的光脉冲中各个脉冲的中心位置;S4、根据低电平信号阈值,在所述步骤S2处理后得到的光脉冲中找到连续的低电平信号片段;S5、根据所述低电平信号片段和所述起始脉冲的预定幅值,确定所述脉冲序列的起始脉冲位置;S6、根据所述步骤S5中得到的所述脉冲序列的起始脉冲位置,以及所述步骤S3中得到所述光脉冲中各个脉冲的中心位置,计算所述脉冲序列的干涉脉冲序列中的相邻干涉脉冲之间的中心位置的差,并作为相邻干涉脉冲中后出现的干涉脉冲的延时参数,计算所述脉冲序列的第一个干涉脉冲中心位置与对应的定位脉冲的位置的差作为所述第一个干涉脉冲的延时参数,其中所述第一个干涉脉冲为所述起始脉冲的后一个脉冲。
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