[发明专利]TFT基板与CF基板的对位方法有效
申请号: | 201510459271.8 | 申请日: | 2015-07-29 |
公开(公告)号: | CN104950506B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 杨少甫 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板与CF基板的对位方法,在以传统的全距测量法勘合方式制作TFT基板与CF基板的基础上,增加了对TFT基板与CF基板进行投入配对的过程,使得全距偏差值趋近的TFT基板与CF基板配对对位,具有更高的对位精度,能够满足高分辨率TFT‑LCD产品的组立要求,并降低高分辨率TFT‑LCD产品因BM线宽细化而产生混色的风险。 | ||
搜索关键词: | tft cf 对位 方法 | ||
【主权项】:
一种TFT基板与CF基板的对位方法,包括如下步骤:步骤1、基于传统的全距测量法勘合方式以相同的全距标准值制作出多个TFT基板与多个CF基板,每一TFT基板上具有TFT侧对位标记,每一CF基板上具有分别与TFT侧对位标记对应的CF侧对位标记;步骤2、分别测量每一TFT基板上的TFT侧对位标记的全距实际值、以及每一CF基板上的CF侧对位标记的全距实际值,并分别计算每一TFT基板上的TFT侧对位标记的全距实际值与全距标准值的X向偏差值(ΔTP1(X))与Y向偏差值(ΔTP1(Y))、以及每一CF基板上的CF侧对位标记的全距实际值与全距标准值的X向偏差值(ΔTP2(X))与Y向偏差值(ΔTP2(Y));其特征在于,还包括:步骤3、设定同一参考偏差值范围,并将所述参考偏差值范围划分为多个群组,将TFT侧对位标记的全距实际值与全距标准值的X向偏差值(ΔTP1(X))与Y向偏差值(ΔTP1(Y))落入不同群组的TFT基板做投入标示,将CF侧对位标记的全距实际值与全距标准值的X向偏差值(ΔTP2(X))与Y向偏差值(ΔTP2(Y))落入不同群组的CF基板做投入标示;步骤4、根据TFT基板上所做的投入标示与CF基板上所做的投入标示,对TFT基板与CF基板进行投入配对;步骤5、将配对的TFT基板与CF基板对位。
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