[发明专利]一种光轴一致性标定装置有效
| 申请号： | 201510462999.6 | 申请日： | 2015-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN106403990B | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 王春喜;姜云翔;王锴磊;赵天承;汪涛;刘凯;王强 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于光电自准直非接触测角领域，提供一种快速、便捷的测量光路，完成被测瞄准棱镜出射光线光轴一致性的光轴一致性标定装置；一种光轴一致性标定装置，包括自准直仪A、双向电子水平仪、自准直仪B、测试台架及调整支架、双激光惯组、瞄准棱镜、箭体支架及综合测试电控箱，其中所述测试台架及调整支架为双层支架，上层支架上表面上设有铸铝壳体，所述铸铝壳体两端分别设有自准直仪A和自准直仪B，自准直仪A与自准直仪B之间设有一个双向电子水平仪；所述测试台架及调整支架的下层支架上设有一个综合测试电控箱；所述箭体支架上设有双激光惯组，所述双激光惯组为待测的两个激光惯组，每个激光惯组上分别设有一个瞄准棱镜。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光轴 一致性 标定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光轴一致性标定装置，其特征在于：包括自准直仪A(1)、双向电子水平仪(2)、自准直仪B(3)、测试台架及调整支架(4)、双激光惯组(5)、瞄准棱镜(6)、箭体支架(7)及综合测试电控箱(8)，其中所述测试台架及调整支架(4)为双层支架，上层支架上表面上设有铸铝壳体，所述铸铝壳体两端分别设有自准直仪A(1)和自准直仪B(3)，自准直仪A(1)与自准直仪B(3)之间设有一个双向电子水平仪(2)；所述测试台架及调整支架(4)的下层支架上设有一个综合测试电控箱(8)；所述箭体支架(7)上设有双激光惯组(5)，所述双激光惯组(5)为待测的两个激光惯组，每个激光惯组上分别设有一个瞄准棱镜(6)，所述自准直仪A(1)和自准直仪B(3)的测量光轴平行。
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