[发明专利]油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法及装置有效
| 申请号： | 201510463300.8 | 申请日： | 2015-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN105092819B | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 邢学文;于世勇;刘松;申晋利;张强 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/24 | 分类号： | G01N33/24 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王涛 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法及装置，所述光谱分析方法包括：采集油气藏及其外围浅表设定深度的土壤样品；测量所述土壤样品的氧化还原电位；测量土壤样品的反射率光谱，消除所述土壤样品在设定波长位置的光谱跃迁，对所述反射率光谱进行再处理，生成反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度三个衍生光谱指标；计算所述氧化还原电位与所述反射率光谱、反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度之间的相关系数；根据所述相关系数，确定建模的最佳光谱指标及建模波长；应用偏最小二乘法建立所述氧化还原电位与最佳光谱指标之间的回归模型。 | ||
| 搜索关键词： | 油气藏 上方 土壤 氧化 还原 电位 光谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法，其特征在于，所述光谱分析方法包括：采集油气藏及其外围浅表设定深度的土壤样品；测量所述土壤样品的氧化还原电位；测量土壤样品的反射率光谱，消除所述土壤样品在设定波长位置的光谱跃迁，对所述反射率光谱进行再处理，生成反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度三个衍生光谱指标；计算所述氧化还原电位与所述反射率光谱、反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度之间的相关系数；根据所述相关系数，确定建模的最佳光谱指标及建模波长；应用偏最小二乘法建立所述氧化还原电位与最佳光谱指标之间的回归模型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气股份有限公司，未经中国石油天然气股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510463300.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种坡面水量平衡场观测装置及应用该装置的观测方法
- 下一篇：多功能地下观测室
