[发明专利]一种沉积物粒度光谱分析方法及装置有效
| 申请号： | 201510463305.0 | 申请日： | 2015-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN105092436B | 公开（公告）日： | 2018-01-05 |
| 发明（设计）人： | 邢学文;刘松;周红英;董文彤;谢兴 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 王涛 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种沉积物粒度光谱分析方法及装置，该沉积物粒度光谱分析方法包括采集沉积物样品；利用激光散射粒度分布分析仪获取沉积物样品的粒度分布，根据设定的尺寸范围确定沉积物样品的粒度；消除所述沉积物样品在设定波长位置的光谱跃迁，生成所述沉积物样品的反射率光谱，并对反射率光谱进行再处理，生成反射率一阶导数、反射率倒数的对数和反射率吸收深度三个衍生光谱指标；应用相关性分析方法计算所述沉积物样品的粒度与设定波长范围内的反射率、所述反射率一阶导数、反射率倒数的对数及反射率吸收深度的相关性，确定最佳光谱指标及参与建模的波长；利用偏最小二乘方法，建立沉积物粒度与最佳光谱指标之间的回归模型。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 沉积物 粒度 光谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种沉积物粒度光谱分析方法，其特征在于，所述沉积物粒度光谱分析方法包括：采集各沉积相不同部位、不同深度的沉积物样品；利用激光散射粒度分布分析仪获取沉积物样品的粒度分布，根据设定的尺寸范围确定所述沉积物样品的粒度，所述沉积物样品的粒度为所述沉积物样品中黏土、粉砂和砂的百分含量；消除所述沉积物样品在设定波长位置的光谱跃迁，生成所述沉积物样品的反射率光谱，并对反射率光谱进行再处理，生成反射率一阶导数、反射率倒数的对数和反射率吸收深度三个衍生光谱指标；应用相关性分析方法计算所述沉积物样品的粒度与设定波长范围内的反射率、所述反射率一阶导数、反射率倒数的对数及反射率吸收深度的相关性，确定最佳光谱指标及参与建模的波长；利用偏最小二乘方法，建立沉积物粒度与最佳光谱指标之间的回归模型。
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