[发明专利]一种OLED微型显示器缺陷检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201510464136.2 申请日: 2015-07-31
公开(公告)号: CN105044127A 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 李一民 申请(专利权)人: 深圳市星火辉煌系统工程有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 任哲夫
地址: 518000 广东省深圳市盐田*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种OLED微型显示器缺陷检测装置和应用所述检测装置的检测方法,所述检测装置包括测试板、相机和计算机,相机与被检测微型显示器不直接接触,避免了在检测中引入新的缺陷;机器视觉响应快速、实时可靠,可以重复进行相同的操作,把人从简单的重复劳动中解放出来,检验一致性好。所述检测方法通过中值滤波、增强对比度和几何校正的预处理步骤,提高了缺陷图像的质量,为后续计算分析打下了良好基础,并采用三次差影运算迭代去除所述缺陷图像像素分布的纹理特征,使缺陷图像清晰度进一步提高,通过改进的K-均值聚类方法分割缺陷图像,减少了后续运算过程中的迭代次数,提高了检测效率。
搜索关键词: 一种 oled 微型 显示器 缺陷 检测 装置 方法
【主权项】:
一种OLED微型显示器缺陷检测装置,其特征在于,包括,测试板,用于固定和驱动所述OLED微型显示器;相机,设置于所述测试板上方,用于采集所述测试板上的所述OLED微型显示器的图像;计算机,与所述相机电连接,用于控制所述相机采集测试图案,并对所述测试图案进行分析并输出分析结果。
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