[发明专利]大入射角磁光子晶体宽带光隔离器在审

专利信息
申请号: 201510465311.X 申请日: 2015-07-31
公开(公告)号: CN105093571A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 陈鹤鸣;徐海燕 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: G02F1/09 分类号: G02F1/09
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 汪旭东
地址: 210046 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种大入射角一维磁光子晶体宽带光隔离器。其中光隔离器结构是由磁光介质层(1)、高折射率电介质层(2)和低折射率电介质层(3)沿Z轴周期性排列的一维结构,磁光介质层为Ce:YIG,高折射率电介质层为Si,低折射率电介质层为SiO2,采用多磁光介质层和三种膜层重复数控制光隔离器结构;外加磁场(4)与光路光轴之间的夹角(5)为19.95度。该磁光子晶体光隔离器在中心波长λ0=1550nm的条件下采用掺铈钇铁石榴石Ce:YIG作磁光介质层M、硅作高折射率的电介质层H、二氧化硅作低折射率的电介质层L、外加磁场;其利用磁光法拉第效应,实现了对光线入射角度α(6)具有宽容性的宽带光隔离。
搜索关键词: 入射角 光子 晶体 宽带 隔离器
【主权项】:
一种大入射角磁光子晶体宽带光隔离器,其特征在于该磁光子晶体光隔离器在中心波长λ0=1550nm的条件下采用掺铈钇铁石榴石Ce:YIG作磁光介质层(1)、硅作高折射率电介质层(2)、二氧化硅作低折射率电介质层(3)、外加磁场(4);其中磁光介质层(1)、高折射率电介质层(2)和低折射率电介质层(3)是沿Z方向排列的一维周期性结构,高折射率电介质层(2)、低折射率电介质层(3)的光学厚度为λ0/4,磁光介质层(1)的光学厚度为λ0/2,其周期性排列顺序为:(H/L)x/M/(L/H)y/M/(H/L)z/M/(L/H)z/M/(H/L)y/M/(L/H)x/M/(H/L)x/M/(L/H)y/M/(H/L)z/M/(L/H)z/M/(H/L)y/M/(L/H)x,其中x=2,y=5,z=4;外加磁场(4)与Z轴之间夹角(5)为19.95°;H为高折射率电介质层,L为低折射率电介质层,M为磁光介质层。
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