[发明专利]一种检测磁盘的方法及装置有效
| 申请号： | 201510465856.0 | 申请日： | 2015-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN106407052B | 公开（公告）日： | 2019-09-13 |
| 发明（设计）人： | 李静辉;张金冬;黄澄 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 冯艳莲 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测磁盘的方法及装置，该方法包括：采集磁盘的N个输入输出I/O相关指标一一对应的一组N个实时数据；其中所述N个I/O相关指标包括所述磁盘的I/O响应时间及影响所述I/O响应时间的指标；所述I/O响应时间为从应用下发操作请求开始到接收到所述磁盘对所述请求的响应为止的时间；N为大于或等于2的整数；根据所述N个实时数据确定所述I/O响应时间是否异常；所述I/O响应时间异常表示所述磁盘不能够正常运行业务；所述I/O响应时间正常表示所述磁盘能够正常运行业务；若所述I/O响应时间异常，则输出检测结果，所述检测结果用于表征所述I/O响应时间异常。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 磁盘 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检测磁盘的方法，其特征在于，包括：采集磁盘的N个输入输出I/O相关指标一一对应的一组N个实时数据；其中所述N个I/O相关指标包括所述磁盘的I/O响应时间及影响所述I/O响应时间的指标；所述I/O响应时间为从应用下发操作请求开始到接收到所述磁盘对所述请求的响应为止的时间；N为大于或等于2的整数；根据所述N个实时数据确定所述I/O响应时间是否异常；所述I/O响应时间异常表示所述磁盘不能够正常运行业务；所述I/O响应时间正常表示所述磁盘能够正常运行业务；若所述I/O响应时间异常，则输出检测结果，所述检测结果用于表征所述I/O响应时间异常；所述根据所述N个实时数据确定所述I/O响应时间是否异常，包括：确定除所述I/O响应时间之外的其余N‑1个I/O相关指标对应的N‑1个实时数据分别处于，所述其余N‑1个I/O相关指标中每个I/O相关指标的至少两个预设区间中的哪个预设区间，其中，所述其余N‑1个I/O相关指标对应的N‑1个实时数据分别处于N‑1个所述预设区间内；所述N‑1个I/O相关指标中每个I/O相关指标的所述至少两个预设区间为：划分所述每个I/O相关指标能够支持的第一值与第二值之间的大范围得到的至少两个子区间范围；判断所述I/O响应时间对应的实时数据是否超过与所述N‑1个预设区间的组合对应的I/O响应时间阈值；所述I/O响应时间阈值小于或等于：所述N‑1个实时数据分别处于各自对应的所述预设区间时，所述磁盘能够正常运行业务的最大I/O响应时间值；若所述I/O响应时间对应的实时数据超过所述I/O响应时间阈值，则确定所述I/O响应时间异常。
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