[发明专利]一种检测慢盘的方法及装置

摘要

本发明提供一种检测慢盘的方法及装置，涉及计算机领域，能够提高检测慢盘的准确度。该方法包括：在检测周期内周期性采样且每次采样时：获取本次采样时硬盘读写数据的第一延时以及第一延时相关指标值；确定第一延时相关指标值所属的第一区间；若第一区间已满则计算第一延时与区间平均延时的比值，即第一比值；在每次检测周期结束且下次检测周期开始前：若在本次检测周期内的所有采样周期内获取到的所有延时相关指标值落入到各个已满区间的个数大于或等于第二阈值，则计算获取到落入各个已满区间的多个延时相关指标值的多个采样周期内计算的多个第一比值的平均值，即第一比值平均值；若第一比值平均值大于或等于第三阈值，则确定硬盘为慢盘。

主权项

1.一种检测慢盘的方法，其特征在于，所述方法包括：在检测周期内，周期性地进行采样，在每次采样周期内，执行如下方法：获取本次采样周期内硬盘读写数据的第一延时以及第一延时相关指标值，其中，所述第一延时相关指标值为延时相关指标值的一个具体值，所述延时相关指标值为一个会随延时变化而发生相应变化的一个值；确定所述第一延时相关指标值所属的第一区间；其中，所述第一区间为预先针对最大延时相关指标值划分的多个区间中的一个；若所述第一区间是已满区间，则计算所述第一延时与区间平均延时的比值，得到第一比值；其中，所述已满区间是在所有采样周期内获取到的所有延时相关指标值落入到该区间的个数达到第一阈值的区间，所述区间平均延时为所述第一区间中的多个第二延时的平均值，所述多个第二延时一一对应于第一多个采样周期，每个第二延时在与之对应的采样周期内被获取，其中，每个采样周期对应于一个延时相关指标值；在每次检测周期结束后，下一个检测周期开始前，执行如下方法：若在本次检测周期内的所有采样周期内获取到的所有延时相关指标值落入到各个已满区间的个数大于或等于第二阈值，则计算第二多个采样周期内计算的多个第一比值的平均值，得到第一比值平均值，所述第二多个采样周期为获取到落入各个已满区间的多个延时相关指标值的采样周期；若所述第一比值平均值大于或等于第三阈值，则确定所述硬盘为慢盘。