[发明专利]一种用于电子产品的可靠性鉴定方法在审
申请号: | 201510469648.8 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN106443221A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 何俊;陶小创;曲丽丽 | 申请(专利权)人: | 北京电子工程总体研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司11257 | 代理人: | 张文祎 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种用于电子产品的可靠性鉴定方法,包括步骤:根据置信度,计算与不同故障数对应的可靠性试验时间;根据故障数和与故障数对应的可靠性试验时间,计算使用方风险和生产方风险;根据故障数、与故障数对应的可靠性试验时间和生产方风险,计算最小故障数和最短试验时间;根据使用方风险、生产方风险和鉴别比,计算最大故障数和最长试验时间;根据最小故障数、最短试验时间、最大故障数和最长试验时间画出试验截尾判决图,并基于试验截尾判决图对电子产品的可靠性进行判决。本发明所述技术方案提高了对批电子产品做出拒收判决的条件,因而有效降低了生产方损失和合格电子产品被拒收的风险,同时便于试验规划安排。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 电子产品 可靠性 鉴定 方法 | ||
【主权项】:
一种用于电子产品的可靠性鉴定方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、根据置信度,计算与不同故障数对应的可靠性试验时间;S2、根据故障数和与故障数对应的可靠性试验时间,计算使用方风险和生产方风险;S3、根据故障数、与故障数对应的可靠性试验时间和生产方风险,计算最小故障数和最短试验时间;S4、根据使用方风险、生产方风险和鉴别比,计算最大故障数和最长试验时间;S5、根据最小故障数、最短试验时间、最大故障数和最长试验时间画出试验截尾判决图,并基于试验截尾判决图对电子产品的可靠性进行判决。
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