[发明专利]微纳米阵列结构、其制备方法和制备其用的掩模阵列有效
申请号: | 201510472382.2 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN106444271B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 陈东学;刘前 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G03F1/20 | 分类号: | G03F1/20;B81B7/02;B81C1/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋;侯桂丽 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种用于在基底上制备微纳米阵列结构的掩模阵列,以及用所述掩模阵列制备得到的微纳米阵列结构。所述掩模阵列由掩模单元阵列组成;所述掩模单元包括底面和向上翘起的侧面,所述底面平铺在基底上。本发明提供的掩模阵列,克服了传统掩模在干法蚀刻中易产生变形、缺陷和收缩等掩模损伤,从而导致掩模形状转移到基底时存在边壁效应,如:畸变、侧壁条纹和柱体陡直度减小等不足,本发明的悬空掩模不受材料和形状限制;同时,本发明的陡直的表面光滑柱体也不受材料和形状的限制;本发明工艺流程简单、加工方便,价格相对便宜。 | ||
搜索关键词: | 纳米 阵列 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于在基底上制备微纳米阵列结构的掩模阵列,其特征在于,所述掩模阵列由掩模单元阵列组成,所述掩模阵列的阵列周期≥2μm;所述掩模单元包括底面和向上翘起的侧面,所述底面平铺在基底上,所述掩模单元结构由下向上外形尺寸逐渐变大,所述侧面上翘与基底平面之间的角度为30~85°,所述掩模单元上表面与基底之间的距离为200nm~5μm,所述掩模单元底面尺度≥1μm;由所述的掩模阵列获得的微纳米阵列结构,上表面和侧表面光滑,没有条纹和畸变,具有85°以上的陡直度。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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