[发明专利]微纳米阵列结构、其制备方法和制备其用的掩模阵列有效

专利信息
申请号: 201510472382.2 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN106444271B 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 陈东学;刘前 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G03F1/20 分类号: G03F1/20;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 巩克栋;侯桂丽
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于在基底上制备微纳米阵列结构的掩模阵列,以及用所述掩模阵列制备得到的微纳米阵列结构。所述掩模阵列由掩模单元阵列组成;所述掩模单元包括底面和向上翘起的侧面,所述底面平铺在基底上。本发明提供的掩模阵列,克服了传统掩模在干法蚀刻中易产生变形、缺陷和收缩等掩模损伤,从而导致掩模形状转移到基底时存在边壁效应,如:畸变、侧壁条纹和柱体陡直度减小等不足,本发明的悬空掩模不受材料和形状限制;同时,本发明的陡直的表面光滑柱体也不受材料和形状的限制;本发明工艺流程简单、加工方便,价格相对便宜。
搜索关键词: 纳米 阵列 结构 制备 方法
【主权项】:
1.一种用于在基底上制备微纳米阵列结构的掩模阵列,其特征在于,所述掩模阵列由掩模单元阵列组成,所述掩模阵列的阵列周期≥2μm;所述掩模单元包括底面和向上翘起的侧面,所述底面平铺在基底上,所述掩模单元结构由下向上外形尺寸逐渐变大,所述侧面上翘与基底平面之间的角度为30~85°,所述掩模单元上表面与基底之间的距离为200nm~5μm,所述掩模单元底面尺度≥1μm;由所述的掩模阵列获得的微纳米阵列结构,上表面和侧表面光滑,没有条纹和畸变,具有85°以上的陡直度。
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