[发明专利]一种测量被测器件噪声系数的方法和装置

摘要

本发明实施例公开了一种测量被测器件噪声系数的方法，包括：获取被测器件扩展电路的噪声系数；所述被测器件扩展电路包括被测器件和被测器件通路，所述被测器件通路包括设置在所述被测器件任意一个输入端口或任意一个输出端口的第一阻抗匹配网络；获取所述被测器件通路的插入损耗；基于所述被测器件扩展电路的噪声系数和所述被测器件通路的插入损耗，得出所述被测器件的噪声系数。本发明实施例还公开了一种测量被测器件噪声系数的装置。

主权项

1.一种测量被测器件噪声系数的方法，其特征在于，所述方法包括：获取被测器件扩展电路的噪声系数；所述被测器件扩展电路包括被测器件和被测器件通路，所述被测器件通路包括设置在所述被测器件任意一个输入端口或任意一个输出端口的第一阻抗匹配网络；其中，所述第一阻抗匹配网络具有被测器件端口，用于连接所述被测器件；获取所述被测器件通路的插入损耗；其中，所述获取所述被测器件通路的插入损耗包括：对所述被测器件通路进行复制；在复制后的被测器件通路的阻抗匹配网络的被测器件端口设置与第一阻抗匹配网络形成共轭匹配或镜像对称的阻抗匹配网络；获取级联通路的插入损耗，所述级联通路包括复制后的被测器件通路、以及与所述复制后的被测器件通路连接的阻抗匹配网络；基于所述级联通路的插入损耗得出所述被测器件通路的插入损耗；基于所述被测器件扩展电路的噪声系数和所述被测器件通路的插入损耗，得出所述被测器件的噪声系数。