[发明专利]一种双工光纤跳线插回损快速测试和极性判断的方法

摘要

本发明公开了一种双工光纤跳线插回损快速测试和极性判断的方法。所述方法采用不同分光比的1×2光耦合器将两路光合并到一个光功率计探头中，在经过三步参考测试之后，接入待测双工光纤跳线，单次测试即可得出双工光纤跳线光插入损耗、四个端面的光回波损耗和极性是否相同的结果；然后，更换待测双工光纤跳线，无需参考直接进行待测件测试即可得出测试结果，显著地缩短了测试时间，极大地提高了测试效率。

主权项

一种双工光纤跳线插回损快速测试和极性判断的方法，其特征在于，所述方法测试时用到的设备包括工作波长为1310nm和1550nm的带内置光开关的光回波损耗测试仪、两根标准光纤跳线MTJ1和MTJ2、两个双工适配器、工作波长包含1310nm和1550nm的1×2光耦合器和待测双工光纤跳线，其中，光耦合器的分光比为40：60；所述方法采用如下测试步骤：s1用标准光纤跳线MTJ1分别连接光回波损耗测试仪的输出OUTA和光功率计OPM；选择相应的工作波长、平均时间、量程和输出端口，选择参考测试，测出从OUTA经MTJ1光纤跳线后输出脉冲光峰值光功率PA1；s2用标准光纤跳线MTJ2分别连接光回波损耗测试仪的输出OUTB和光功率计OPM；选择相应的输出端口，其他测试条件不变，测出从OUTB经MTJ2光纤跳线后输出脉冲光峰值光功率PB1；s3用标准光纤跳线MTJ1和MTJ2的一端分别连接OUTA和OUTB，用标准光纤跳线MTJ1和MTJ2的另一端通过一个双工适配器分别连接光耦合器的40端和60端，将光耦合器的公共端COM连接光功率计OPM；选择相应的输出端口，其他测试条件不变，分别测出从OUTA经MTJ1和光耦合器后输出的脉冲光平均光功率以及从OUTB经MTJ2和光耦合器后输出的脉冲光平均光功率s4将待测双工光纤跳线的一端通过一个双工适配器分别与MTJ1和MTJ2的一端连接，另一端通过另一个双工适配器分别与光耦合器的40端和60端连接；选择相应的输出端口，选择待测件测试，其他测试条件不变，分别测出从OUTA和OUTB输出的经过待测双工光纤跳线后的脉冲光平均光功率和以及从OUTA和OUTB的待测双工光纤跳线两个端面返回的脉冲光峰值光功率P′A1、P′A2和P′B1、P′B2；根据光插入损耗和光回波损耗的计算公式，其中，Pin、Pout和Pback分别表示入射光功率、出射光功率和反射光功率；则待测双工光纤跳线的光插入损耗和四个端面光回波损耗分别是：ORLA1＝PA1‑P′A1，ORLA2＝(PA1‑ILA)‑(P′A2+ILA)，ORLB1＝PB1‑P′B1，ORLB2＝(PB1‑ILB)‑(P′B2+ILB)；通过测出的双工光纤跳线光插入损耗值，进行双工光纤跳线的极性判断；双工光纤跳线的极性判断规则为：如果测出的光插入损耗值有负值，判定为双工光纤跳线极性相反；如果测出的光插入损耗值都为正值，并且ILB大于光耦合器两路光插入损耗之差的话，需要采用传统方法来判定双工光纤跳线极性；其他情况判定为双工光纤跳线极性相同。