[发明专利]一种芯片验证的方法和装置在审
| 申请号： | 201510474425.0 | 申请日： | 2015-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN106445800A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 任庆昆 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 张振伟;张颖玲 |
| 地址： | 518085 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种芯片验证的方法和装置，该方法可以包括：将按照预设生成机制生成的激励矢量分别输入至待验证对象和标准模型，获取对应的待验证输出矢量和参照输出矢量；将所述待验证输出矢量和所述参照输出矢量进行比较；当所述待验证输出矢量与参照输出矢量之间不一致时，确定所述待验证对象异常，并将所述激励矢量重新输入至待验证对象进行异常场景复现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片验证的方法，其特征在于，所述方法包括：将按照预设生成机制生成的激励矢量分别输入至待验证对象和标准模型，获取对应的待验证输出矢量和参照输出矢量；将所述待验证输出矢量和所述参照输出矢量进行比较；当所述待验证输出矢量与参照输出矢量之间不一致时，确定所述待验证对象异常，并将所述激励矢量重新输入至待验证对象进行异常场景复现。
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