[发明专利]绝对式编码器和测量装置有效
申请号: | 201510477260.2 | 申请日: | 2015-08-06 |
公开(公告)号: | CN105371879B | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 弥延聪 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
主分类号: | G01D5/26 | 分类号: | G01D5/26;G01D5/30 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人: | 郭放,许伟群 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及绝对式编码器,上述绝对式编码器具备发光机构,用于从出射面照射检测光(L);以及受光机构,利用受光区域接收从出射面射出并通过了刻度盘的刻度区域的检测光(L)。发光机构和受光机构设定成使从出射面经过刻度区域朝向受光区域的照射轴线相对于刻度盘的旋转轴线方向倾斜的位置关系。 | ||
搜索关键词: | 绝对 编码器 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种绝对式编码器,具备:发光机构,从出射面照射检测光;以及受光机构,利用受光区域接收从上述出射面射出并通过了刻度盘的刻度区域的上述检测光,上述受光区域以在受光轴线方向上呈直线状延伸的方式形成,上述刻度盘具有圆盘形状,在上述刻度盘的半径方向上观察,上述发光机构位于比上述刻度区域靠外侧,在上述半径方向上观察,上述受光机构位于比上述刻度区域靠内侧,并且上述受光机构设定成相对于上述刻度盘使上述受光轴线方向为与针对上述刻度盘的圆盘形状的弦平行的方向的位置关系,上述发光机构和上述受光机构设定成使从上述出射面经过上述刻度区域朝向上述受光区域的照射轴线相对于包含上述受光轴线方向且与上述刻度盘的旋转轴线方向平行的面倾斜的位置关系,将从在上述半径方向上观察的上述出射面的内端位置射出并朝向在上述半径方向上观察的上述受光区域的外端位置的上述检测光作为内端检测光,并且将上述内端检测光在上述受光区域朝向上述刻度盘反射而成的反射检测光作为外端反射检测光,设定上述内端检测光相对于包含上述受光轴线方向且与上述旋转轴线方向平行的面的内端入射角度,以防止上述外端反射检测光在上述刻度盘上再次反射而到达上述受光区域,据此设定上述发光机构与上述受光机构的位置关系。
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