[发明专利]一种工业厂区重金属污染场地的采样分析方法在审
申请号: | 201510479833.5 | 申请日: | 2015-08-07 |
公开(公告)号: | CN104990976A | 公开(公告)日: | 2015-10-21 |
发明(设计)人: | 钟茂生;夏天翔;姜林;张丽娜;张丹;樊艳玲;王琪;朱笑盈 | 申请(专利权)人: | 北京市环境保护科学研究院 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京中建联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11004 | 代理人: | 宋元松 |
地址: | 100037 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种工业厂区重金属污染场地的采样分析方法,包括以下四个步骤:(1)对厂区进行土壤采样;(2)样品检测结果统计及空间分布分析;(3)与背景浓度比较分析;(4)相关性分析:当具体场地土壤中某一重金属浓度与场地其他重金属浓度Pearson相关性检验结果的Pearson系数大于0.05时,表明两者相关性较差,即认为场地土壤已受该种重金属污染。本发明的优点在于从场地用地历史资料分析及现场踏勘、样品浓度统计及空间分布分析、场地目标重金属背景浓度比较以及重金属同源性分析4方面进行评估论证,确保评估结果具有更高的可靠度。 | ||
搜索关键词: | 一种 工业 厂区 重金属 污染 场地 采样 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种工业厂区重金属污染场地的采样分析方法,其特征在于:包括以下四个步骤:(1)对厂区进行土壤采样;(2)样品检测结果统计及空间分布分析:对土壤样品进行HNO3+HF消解后采用ICP‑MS定量分析土壤样品中重金属浓度并进行统计分析,绘制浓度累积频率分布曲线,如果样品浓度累积频率分布曲线近似表现为连续的直线,表明场地土壤未受污染,如果有大量偏离直线的高浓度异常点,表明场地土壤受到重金属污染,或是由于地质成型过程导致场地局部重金属背景浓度较高;需要结合这些高浓度异常点在厂区土壤中的空间分布以判断这部分高浓度异常点是因人为污染所致还是场地的天然高背景值所致;(3)与背景浓度比较分析:以场地样品分析结果为样本,绘制场地土壤中重金属浓度的累计频率曲线,根据该曲线特征及偏离直线段的异常点在场地中的空间分布,确定场地重金属的背景浓度,并将各采样点检测结果与推导的场地背景浓度进行比较,判断场地土壤是否受到污染;(4)相关性分析:当具体场地土壤中某一重金属浓度与场地其他重金属浓度Pearson相关性检验结果的Pearson系数大于0.05时,表明两者相关性较差,即认为场地土壤已受该种重金属污染。
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