[发明专利]一种多晶硅溶液液面距定位方法在审

专利信息
申请号: 201510482493.1 申请日: 2015-08-07
公开(公告)号: CN106435714A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 王保胜;何紫平;孙喜良;郭振宇;马卫康;翟胜涛;苏金玉 申请(专利权)人: 特变电工新疆新能源股份有限公司
主分类号: C30B15/20 分类号: C30B15/20;C30B29/06
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 罗建民;邓伯英
地址: 830011 新疆维吾尔自治*** 国省代码: 新疆;65
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摘要: 发明提供一种多晶硅溶液液面距定位方法,包括:密封单晶炉的主炉室和副炉室,对单晶炉的主炉室和副炉室抽真空,并加热坩埚内的多晶硅,在密封单晶炉的主炉室和副炉室之前,所述方法还包括:确定导流筒的下沿的位置;坩埚内的多晶硅完全熔化后,所述方法还包括:下降籽晶,并根据导流筒的下沿的位置和预设的液面距m控制籽晶下降的距离;其中,液面距m是指坩埚内多晶硅溶液液面与导流筒的下沿之间的距离;该方法可以准确定位多晶硅溶液液面距,使得多晶硅溶液液面距的定位不再依赖操作员的经验进行,提高准确性和可靠性,从而固化拉晶工艺;此外,该方法操作简单,实用性强,适用范围广泛。
搜索关键词: 一种 多晶 溶液 液面 定位 方法
【主权项】:
一种多晶硅溶液液面距定位方法,包括:密封单晶炉的主炉室和副炉室,对单晶炉的主炉室和副炉室抽真空,并加热坩埚内的多晶硅,其特征在于,在密封单晶炉的主炉室和副炉室之前,所述方法还包括:确定导流筒的下沿的位置;坩埚内的多晶硅完全熔化后,所述方法还包括:下降籽晶,并根据导流筒的下沿的位置和预设的液面距m控制籽晶下降的距离;其中,液面距m是指坩埚内多晶硅溶液液面与导流筒的下沿之间的距离。
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