[发明专利]一种多晶硅溶液液面距定位方法在审
申请号: | 201510482493.1 | 申请日: | 2015-08-07 |
公开(公告)号: | CN106435714A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 王保胜;何紫平;孙喜良;郭振宇;马卫康;翟胜涛;苏金玉 | 申请(专利权)人: | 特变电工新疆新能源股份有限公司 |
主分类号: | C30B15/20 | 分类号: | C30B15/20;C30B29/06 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 罗建民;邓伯英 |
地址: | 830011 新疆维吾尔自治*** | 国省代码: | 新疆;65 |
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摘要: | 本发明提供一种多晶硅溶液液面距定位方法,包括:密封单晶炉的主炉室和副炉室,对单晶炉的主炉室和副炉室抽真空,并加热坩埚内的多晶硅,在密封单晶炉的主炉室和副炉室之前,所述方法还包括:确定导流筒的下沿的位置;坩埚内的多晶硅完全熔化后,所述方法还包括:下降籽晶,并根据导流筒的下沿的位置和预设的液面距m控制籽晶下降的距离;其中,液面距m是指坩埚内多晶硅溶液液面与导流筒的下沿之间的距离;该方法可以准确定位多晶硅溶液液面距,使得多晶硅溶液液面距的定位不再依赖操作员的经验进行,提高准确性和可靠性,从而固化拉晶工艺;此外,该方法操作简单,实用性强,适用范围广泛。 | ||
搜索关键词: | 一种 多晶 溶液 液面 定位 方法 | ||
【主权项】:
一种多晶硅溶液液面距定位方法,包括:密封单晶炉的主炉室和副炉室,对单晶炉的主炉室和副炉室抽真空,并加热坩埚内的多晶硅,其特征在于,在密封单晶炉的主炉室和副炉室之前,所述方法还包括:确定导流筒的下沿的位置;坩埚内的多晶硅完全熔化后,所述方法还包括:下降籽晶,并根据导流筒的下沿的位置和预设的液面距m控制籽晶下降的距离;其中,液面距m是指坩埚内多晶硅溶液液面与导流筒的下沿之间的距离。
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