[发明专利]一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的测量方法有效
申请号: | 201510483049.1 | 申请日: | 2015-08-07 |
公开(公告)号: | CN105021704B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 张国方;裘揆;叶连慧 | 申请(专利权)人: | 上海和伍精密仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200240 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的测量方法,步骤为进行超声波无损探伤C扫描图像识别;将整个C扫描图像进行灰度处理;确定超声波钎着率的阈值;计算整个焊接层区域的钎着率。本发明考虑到阈值的存在,将灰度大于阈值的象素点对测量钎着率的贡献考虑在内,大大提高了钎着率的测量准确度,杜绝了将合格零件误判为超差品或者将超差品误判为合格品的误判问题,避免了浪费,消除了安全隐患。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 超声波 无损 探伤 钎着率 准确度 测量方法 | ||
【主权项】:
一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的测量方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1:进行超声波无损探伤C扫描:首先超声检测设备沿着蛇形轨迹对电触点焊接层逐点进行超声波无损探伤C扫描,获得C扫描图像并储存在计算机中;步骤2:图像识别:对C扫描图像进行图像识别,图像识别的区域是整个焊接层区域;步骤3:对整个焊接层区域图像进行处理:将整个C扫描图像进行灰度处理,量化为L级灰度,并得到每一个扫描点的灰度值f(x,y);步骤4:确定C扫描图像的缺陷阈值fth,阈值fth是一灰度值;步骤5:计数所有小于缺陷阈值fth的象素点,将所有小于缺陷阈值fth的象素点乘以阈值fth,再乘以每象素所占的空间扫描面积s,得到所有焊合点的面积A;步骤6:计数所有灰度值大于缺陷阈值fth的象素点并乘以该象素点的灰度值f(x,y),所得值再乘以每象素所占的空间扫描面积s,得到未焊合的面积B,再加上步骤5所计算的焊合点的面积A,得到总的面积C;步骤7:根据上述步骤的结果,确定该工件钎焊界面的钎着率为:R=AC=Σcount(f(x,y)<fth)×s×fthΣcount(f(x,y)<fth)×s×fth+Σcount(f(x,y)≥fth)×s×f(x,y).]]>
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