[发明专利]一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的方法有效
| 申请号： | 201510483096.6 | 申请日： | 2015-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN105044214B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 叶连慧;裘揆;陈乐生 | 申请（专利权）人： | 上海和伍精密仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200240 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的方法，步骤：进行超声波无损探伤C扫描图像识别；将整个C扫描图像进行灰度处理；根据每个扫描点的像素值，计算整个焊接层区域的钎着率。本发明无需考虑钎着率阈值，只考虑每个点的像素值对钎着率的贡献，大大提高了钎着率的计算准确度，杜绝了将合格零件误判为超差品或者将超差品误判为合格品的误判问题，避免了浪费，消除了安全隐患。 | ||
| 搜索关键词： | 钎着率 超声波无损探伤 准确度 误判 超差 像素 合格品 安全隐患 合格零件 灰度处理 焊接层 扫描点 | ||
【主权项】：
1.一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：进行超声波无损探伤C扫描：首先超声检测设备沿着蛇形轨迹对电触点焊接层逐点进行超声波无损探伤C扫描，获得C扫描图像并储存在计算机中；步骤2：图像识别：对C扫描图像进行图像识别，图像识别的区域是整个焊接层区域；步骤3：对整个焊接层区域图像进行处理：将整个C扫描图像进行灰度处理，量化为L级灰度，并得到每一个扫描点的灰度值f(i) ；步骤4：计算高工件钎焊界面的钎着率R为: R = Σ i = 1 n f ( i ) L n , ]]>(i) 为每个扫描点的灰度值。
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