[发明专利]智能卡掉电保护的测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510483495.2 申请日: 2015-08-03
公开(公告)号: CN105137227A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 梁波;孙马秋;程萌;李丛;王胜利;孙超 申请(专利权)人: 昆腾微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100195 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种智能卡掉电保护的测试装置及方法。该装置布置在读卡器端,该装置包括:写操作模块,用于执行对所述智能卡的写操作;掉电控制模块,用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中,控制所述读卡器掉电并重新上电;比较模块,用于在所述读卡器重新上电后,执行对所述智能卡的读操作,将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较,根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。本发明用以通过控制智能卡的掉电时间,方便分析和定位问题,同时提高掉电保护的测试效率。
搜索关键词: 智能卡 掉电 保护 测试 装置 方法
【主权项】:
一种智能卡掉电保护的测试装置,其特征在于,所述装置布置在读卡器端,所述装置包括:写操作模块,用于执行对所述智能卡的写操作;掉电控制模块,用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中,控制所述读卡器掉电并重新上电;比较模块,用于在所述读卡器重新上电后,执行对所述智能卡的读操作,将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较,根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。
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