[发明专利]一种灯检机及瓶内杂质检测方法在审

专利信息
申请号: 201510485112.5 申请日: 2015-08-10
公开(公告)号: CN105115985A 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 李姝洁;高宇 申请(专利权)人: 楚天科技股份有限公司
主分类号: G01N21/90 分类号: G01N21/90
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人: 赵洪
地址: 410600 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种灯检机及瓶内杂质检测方法,所述瓶体输送件可将待检测的瓶体输送至所述灯检工位处,所述灯检机还包括反射光接收组件和设置在所述瓶体两侧的第一光源和第二光源,所述第一光源和第二光源位于瓶体底部的侧上方且所产生的入射光线γ分别与瓶体底部所在平面之间成角度α和角度β,所述反射光接收组件设置在所述瓶体的下方以接收所述入射光线γ经瓶体底部杂质反射形成的反射光线φ,本发明的瓶内杂质检测方法采用上述灯检机,本发明的灯检机结构简单、检测结果准确可靠,瓶内杂质检测方法操作简单、检测结果准确可靠。
搜索关键词: 一种 灯检机 杂质 检测 方法
【主权项】:
一种灯检机,包括灯检工位(1)和瓶体输送件(2),所述瓶体输送件(2)可将待检测的瓶体(3)输送至所述灯检工位(1)处,其特征在于:所述灯检机还包括反射光接收组件(5)和设置在所述瓶体(3)两侧的第一光源(41)和第二光源(42),所述第一光源(41)和第二光源(42)位于瓶体(3)底部的侧上方且所产生的入射光线γ分别与瓶体(3)底部所在平面之间成角度α和角度β,所述反射光接收组件(5)设置在所述瓶体(3)的下方以接收所述入射光线γ经瓶体(3)底部杂质(7)反射形成的反射光线φ。
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