[发明专利]发光二极管制作方法在审
申请号: | 201510486858.8 | 申请日: | 2015-08-11 |
公开(公告)号: | CN105161577A | 公开(公告)日: | 2015-12-16 |
发明(设计)人: | 朱学亮;张洁;邵小娟;杜彦浩;杜成孝;刘建明;徐宸科 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361009 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了发光二极管制作方法,包括步骤:通过甲硅烷在N型层表面缺陷处形成坑洞,通过三乙基镓在相邻坑洞间凸起处生长氮化物保护层,从而增大PN结面积,使PN结在受到静电冲击时增加所能吸收的电荷,避免发光二极管被静电破坏。 | ||
搜索关键词: | 发光二极管 制作方法 | ||
【主权项】:
发光二极管制作方法,包括步骤:(1)提供一蓝宝石衬底,在衬底上沉积N型层;(2)通入甲硅烷进行处理,在N型层表面形成坑洞;(3)在相邻坑洞间的凸起上生长氮化镓保护层;(4)在氮化镓保护层上,交替生长InGaN层和GaN层,形成多量子阱发光层;(5)生长P型层,覆盖所述N型层、氮化镓保护层和发光层;其特征在于:所述步骤(2)通过甲硅烷作用在N型层上的位错缺陷处,通过扩大缺陷表面凹槽,从而实现在缺陷处形成坑洞,所述步骤(3)生长氮化镓保护层,通过三乙基镓沉积,不会产生活性的含碳反应物,能排除碳杂质的影响,避免氮化镓保护层与碳结合形成深能级缺陷而减少出光。
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