[发明专利]基于T‑T错配原理的汞离子的荧光检测方法及其应用有效
申请号: | 201510490776.0 | 申请日: | 2015-08-11 |
公开(公告)号: | CN105087791B | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 何苗;韩世同;施汉昌;周小红;汪用志 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | C12Q1/6816 | 分类号: | C12Q1/6816 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人: | 关畅,任凤华 |
地址: | 100084 北京市海淀区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了基于T‑T错配原理的汞离子的荧光检测方法及其应用。采用本发明的检测方法能够快速、准确地进行饮用水中汞离子(Hg2+)的检测,最低检测限为22pM,而且特异性强,不受其它金属离子的干扰,重复性好。本发明的检测方法具有特异性强、性能稳定、易于再生、检测成本低、并能与仪器结合的优势,展现出巨大的应用潜力。 | ||
搜索关键词: | 基于 原理 离子 荧光 检测 方法 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种汞离子的检测方法,其特征在于:所述方法包括:1)制备含有AF‑TB的杂交液;所述AF‑TB是由名称为AF的标记了荧光基团的单链DNA和名称为TB的标记了荧光淬灭基团的单链DNA制成的双链DNA,所述杂交液中不含游离状态的AF;2)将待测样品与所述含有AF‑TB的杂交液进行Hg2+诱导形成T–Hg2+–T结构的反应,得到反应液,将所述反应液与表面固定了名称为TS的单链DNA探针的芯片进行杂交反应,检测反应后芯片的荧光强度,根据所述荧光强度确定所述待测样品中汞离子的浓度;所述AF的核苷酸序列为3’‑AAAAAAAAAAAAAA‑5’;所述TB的核苷酸序列为5’‑TTTTTTTTTTTTTT‑3’;所述TS的核苷酸序列5’‑TTTTTTTTTTTTTT‑3’。
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