[发明专利]XRF设备及其样品自动定位多点测试方法、装置在审
| 申请号： | 201510492908.3 | 申请日： | 2015-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN105158285A | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 胡中卫;邵波 | 申请（专利权）人： | 深圳市西凡谨顿科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种XRF设备及其样品自动定位多点测试方法、装置。样品自动定位多点测试方法包括：获取待测样品在移动平台上的图像；显示所述图像；获取用户在显示的所述图像上选择的多个待测点；根据用户选择的所述至少一个待测点，控制所述移动平台运动以使所述待测点依次位于测试中心位置处。本发明特别适用于部分不均匀的样品，极大地改善了用户体验，并提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | xrf 设备 及其 样品 自动 定位 多点 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种XRF设备的样品自动定位多点测试方法，其特征在于，包括：获取待测样品(1)在移动平台(2)上的图像；显示所述图像；获取用户在显示的所述图像上选择的多个待测点；根据用户选择的所述至少一个待测点，控制所述移动平台(2)运动以使所述待测点依次位于测试中心位置处。
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