[发明专利]一种GaN基发光二极管芯片的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510494503.3 申请日: 2015-08-13
公开(公告)号: CN105140354B 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 彭璐;杨肃伟;黄博;刘琦;徐现刚 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/14
代理公司: 济南日新专利代理事务所37224 代理人: 王书刚
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种GaN基发光二极管芯片的制备方法,包括以下步骤(1)沿GaN基外延片的p型GaN层到n型GaN层刻蚀出台面结构,在n型GaN层上制备出台面,同时去除表面残留的光刻胶;(2)在p型GaN层与n型GaN层的外表面上生长电流阻断层;(3)在电流阻断层上刻出所需的图形,保留p型GaN层上表面的电流阻断层和P/N结侧壁上的电流阻断层;(4)在p型GaN层表面沉积ITO透明导电膜;(5)分别在ITO透明导电膜和n型GaN层的台面上制备p型电极和n型电极;(6)制备钝化层,通过光刻露出金属电极。该方法保留了p型GaN层上表面及P/N结侧壁上的电流阻断层,阻挡了后续ITO透明导电膜与金属电极的接触,避免了P/N结上残留ITO或金属,不会造成漏电。
搜索关键词: 一种 gan 发光二极管 芯片 制备 方法
【主权项】:
一种GaN基发光二极管芯片的制备方法,其特征是,包括以下步骤:(1)在GaN基外延片的p型GaN层的上表面涂正性光刻胶,对正性光刻胶进行光刻,光刻出所需台面结构的图形;根据台面结构的图形通过干法刻蚀沿GaN基外延片的p型GaN层到n 型GaN层刻蚀出台面结构,在n 型GaN层上制备出台面,同时去除表面残留的光刻胶;(2)在p型GaN层与n型GaN层的外表面上生长一层厚度为500‑1500埃的电流阻断层;(3)在电流阻断层上通过光刻蚀刻出所需的图形,保留p型GaN层上表面的电流阻断层和P/N结侧壁上的电流阻断层;(4)在p型GaN层表面沉积一层厚度1000-3000埃的ITO透明导电膜,作为电流扩展层;并通过光刻,将n型GaN层及预镀金属电极处开一孔洞穿过电流阻挡层,使金属电极与p型GaN层之间设有附著界面;(5)制备金属电极,分别在ITO透明导电膜和n 型GaN层的台面上制备p型电极和n型电极,得GaN基发光二极管芯片;(6)制备钝化层,通过光刻露出金属电极;所述干法刻蚀为ICP刻蚀,刻蚀过程包括两步,第一步采用Cl2和BCl3为刻蚀气体,刻蚀p型GaN层至量子阱层,第二步刻蚀量子阱层至n型GaN层。
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