[发明专利]一种LED芯片测试方法在审
| 申请号： | 201510496590.6 | 申请日： | 2015-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN105182208A | 公开（公告）日： | 2015-12-23 |
| 发明（设计）人： | 彭璐;黄博;王贤洲;吴向龙;徐现刚 | 申请（专利权）人： | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人： | 王书刚 |
| 地址： | 261061 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种LED芯片测试方法，是在测试针的一侧设置气体管路，在气体管路上设置控制阀，将气体管路的出气喷嘴对准测试针，在测试过程中向气体管路中通入气体，利用气体的压力将测试针的针尖吹净。所述气体管路的出气喷嘴孔径为0.5-1mm。所述气体压力设定为0.2-0.3MPa，流量为0.5-1L/分钟。根据针尖端附着的脏污程度不同，通过控制阀控制气体设置为常开、常闭或定时开启三种模式。该方法利用气体将附着在针尖的金属颗粒、脏污物质实时吹扫，解决了连续测试中的针痕明显、针尖挡光问题，实现了非接触、无暂停清针，为获得精确的光电参数提供了保障，同时降低了人工、停机等测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种LED芯片测试方法，其特征是，在测试针的一侧设置气体管路，在气体管路上设置控制阀，将气体管路的出气喷嘴对准测试针，在测试过程中向气体管路中通入气体，利用气体的压力将测试针的针尖吹净。
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