[发明专利]基于测试模式重排序的分组测试向量之间的兼容性压缩方法

摘要

本发明公开了一种基于测试模式重排序的分组测试向量之间的兼容性压缩方法，对压缩后的测试向量再进行测试模式重排序，然后对重排序后的测试向量进行等分分组，使得重排序之后的完全不兼容的测试向量分组之后达到近似兼容，进而进行测试向量的进一步压缩。本发明相比现有技术具有以下优点这个方案不需要很大的解压缩电路结构，在对测试数据重排序之后再考虑分组测试向量间的兼容性的测试数据压缩，这样利用分组测试向量间兼容性来压缩重排序后的测试向量时，能更好的增加测试数据的压缩率。

主权项

一种基于测试模式重排序的分组测试向量之间的兼容性压缩方法，其特征在于，对压缩后的测试向量再进行测试模式重排序，然后对重排序后的测试向量进行等分分组，使得重排序之后的完全不兼容的测试向量分组之后达到近似兼容，进而进行测试向量的进一步压缩；该基于测试模式重排序的分组测试向量之间的兼容性压缩方案的具体步骤如下：步骤1.获得测试向量的任意两列之间的关联度，即测试向量的每两列测试模式之间的关联度的大小等于在测试模式立方中，此两列测试模式拥有相同逻辑值的次数除以每一列测试模式立方的个数；步骤2.构造关联度图，在获得测试模式间的关联度后，就构造一个完全无向图称为关联度图，关联度图包括顶点及顶点之间的连线，这里顶点表示每列的测试模式，连线的权为相邻顶点的关联度；步骤3.在关联图上查找最大的哈密尔顿回路，对这个哈密尔顿回路，记住相邻测试模式间的关联度；步骤4.对步骤3中获得的最大哈密尔顿回路，依次查找相邻的测试模式之间最小的权，并且中断这两个相邻的测试模式，即获得一个花费成本最低哈密尔顿路径，对哈密尔顿回路，寻找这个回路中权为最小的相邻顶点时，若有几个相邻顶点的权都为最小，则选最前面的相邻顶点，从选择的这个相邻顶点上中断这个回路，即为选择的最小哈密尔顿路径；步骤5.使用最小的哈密尔顿路径的排序方式来重新排列测试向量；步骤6.对重排序的每一个测试向量等分分组；步骤7.统计分组测试向量的各对应列的数据块包括与其反向兼容的数据块的出现频率，将其各个对应列中出现频率较高的数据块作为此列的参考数据块，当每列都找到它的参考数据块的时候，就将其作为这个测试数据集的参考向量，这里参考测试向量存储在第一个存储器中；步骤8.参照参考向量将每个分组测试向量的对应组进行编码压缩，与参考向量对应组的数据块兼容则压缩为0，反向兼容则压缩为1，不兼容则原数据块标记出来，将压缩的测试数据存储在第二个存储器中，以便解压，然后再把下一个分组测试向量压缩存储在第二个存储器中。