[发明专利]光子映射中的偏差控制方法有效
| 申请号： | 201510498167.X | 申请日： | 2015-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN105184848B | 公开（公告）日： | 2018-01-09 |
| 发明（设计）人： | 李胜;孟洋;汪国平 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G06T15/55 | 分类号： | G06T15/55 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 | 代理人： | 余长江 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光子映射中的偏差控制方法，包括如下步骤1)根据光线与场景相交产生的相交点的估算半径，采用KNN方法对相交点附近的光子进行收集；2)对收集到的光子进行可见性判断，以剔除杂质光子；3)通过深度连续性检测对收集到的光子进行拓扑偏差控制；4)根据收集到的光子所依附表面法向的拓扑结构，与相交点表面进行几何连续性检测，从而控制杂质偏差；5)通过凸表面检查对收集到的光子进行边缘偏差控制；6)将剩余的光子作为正确而有效的光子，利用辐射亮度计算公式进行辐射亮度估算。然后把得到的辐射亮度计算值转换为色彩值，即可合成出最终的真实感图像。本发明能够有效消除不恰当收集光子所产生的偏差和噪声问题。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 映射 中的 偏差 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种光子映射中的偏差控制方法，其特征在于，包括如下步骤：1)根据光线与场景相交产生的相交点的估算半径，采用KNN方法收集相交点附近的光子；2)对收集到的光子进行可见性判断，以剔除杂质光子；3)通过深度连续性检测对收集到的光子进行拓扑偏差控制；4)根据收集到的光子所依附表面法向的拓扑结构，与相交点表面进行几何连续性检测，从而控制杂质偏差；5)通过凸表面检查对收集到的光子进行边缘偏差控制；6)将剩余的光子作为正确而有效的光子，利用辐射亮度计算公式进行辐射亮度估算。
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