[发明专利]用于电导率评估的磁耦合有效
| 申请号： | 201510501175.5 | 申请日： | 2015-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN105372497B | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | D·K·达波尔斯特因;A·M·罗柏;A·M·布朗 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 11245 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵蓉民;王爽 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及用于电导率评估的磁耦合，本申请公开一种方法，该方法包括建立在发射线圈和接收线圈之间的被测的复合材料结构(SUT)。发射线圈由在多个频率上的RF信号来驱动，从而使发射线圈产生磁场，该磁场通过穿过SUT磁耦合在接收线圈中感应电压。接收线圈上的电压被测量，并且根据该电压产生由发射线圈和接收线圈之间的SUT引起的RF信号的衰减的测量值。而且SUT的有效导电率根据衰减的测量值被计算。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电导率 评估 耦合 | ||
【主权项】：
1.一种用于复合材料结构的无损检测的系统(100)，其包括：/n发射线圈(102)和接收线圈(104)，所述发射线圈(102)和所述接收线圈(104)被配置为接收在它们之间的被测的复合材料结构即SUT(106)；/n信号发生器(108)，其被配置为利用在多个频率上的射频信号即RF信号驱动所述发射线圈(102)，所述RF信号的形式为穿过所述发射线圈的电流，所述电流使所述发射线圈产生通过穿过所述SUT(106)的磁耦合在所述接收线圈(104)中感应电压的磁场；/n耦合到所述发射线圈(102)和所述接收线圈(104)的接收器对(110，112)和信号处理电路，并且所述接收器对(110，112)和所述信号处理电路被配置为测量在所述接收线圈(104)中的电压，并且从所述电压产生所述多个频率上的所述RF信号的衰减的测量值，所述衰减由所述发射线圈(102)和所述接收线圈(104)之间的所述SUT(106)引起；以及/n分析系统(122)，其耦合到所述信号处理电路并且被配置为根据所述衰减的测量值计算所述SUT(106)的有效电导率，其中所述有效电导率在全局坐标系的各个正交轴上具有分量，并且所述分析系统(122)被配置为计算所述有效电导率包括被配置为具体计算一个或多个所述分量，/n其中所述发射线圈(102)和接收线圈(104)形成布置并包括第一布置和第二布置，在所述第一布置中，所述发射线圈(102)和接收线圈(104)具有第一直径，在所述第二布置中，所述发射线圈(102)和接收线圈(104)具有不同的第二直径，/n其中，所述信号发生器(108)被配置为分别驱动所述第一布置和第二布置的发射线圈(102)，以及所述接收器对(110，112)和信号处理电路被配置为分别产生针对所述第一布置的所述RF信号的衰减的第一测量值和针对所述第二布置的所述RF信号的衰减的第二测量值，以及/n其中所述分析系统(122)被配置为具体计算一个或多个所述分量包括被配置为根据衰减的所述第一测量值和衰减的所述第二测量值具体计算一个或多个所述分量。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于波音公司，未经波音公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510501175.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
