[发明专利]一种制备高质量柔性单晶硅纳米线的方法在审
申请号: | 201510502869.0 | 申请日: | 2015-08-17 |
公开(公告)号: | CN105177706A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 余林蔚;薛兆国;许明坤;李成栋 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | C30B25/20 | 分类号: | C30B25/20;C30B29/06;B82Y40/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈建和 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种制备高质量柔性平面zigzag单晶硅纳米线的方法,1)、在平整的衬底上,利用光刻或其他图案选择定位技术,在选位区域蒸镀Sn或In等诱导金属膜,作为纳米线生长的初始位置;2)在PECVD系统中利用等离子体处理技术,在温度200℃-500℃、功率2W-50W时用氢气的等离子处理样品,使金属膜成为直径在几十纳米到几微米之间的准纳米催化颗粒;3)、在PECVD系统中覆盖一层适当厚度的非晶硅层作为前驱体介质层;4)、在真空中或者氢气、氮气等非氧化性气氛中退火,激活的催化颗粒自发吸收周围的非晶硅,析出晶态硅,同时纳米线的生长方向发生周期性的变化,从而生长出zigzag形晶态纳米线。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 质量 柔性 单晶硅 纳米 方法 | ||
【主权项】:
一种制备高质量柔性平面zigzag单晶硅纳米线的方法,其特征在于:包括以下步骤:1)、在平整的衬底上,利用光刻或其他图案选择定位技术,在选位区域蒸镀Sn或In等诱导金属膜,作为纳米线生长的初始位置,金属膜厚度在几个纳米到几十个纳米;2)在PECVD系统中利用等离子体处理技术,在温度200℃‑500℃、功率2W‑50W时用氢气的等离子处理样品,使金属膜成为直径在几十纳米到几微米之间的准纳米催化颗粒; 3)、在PECVD系统中覆盖一层适当厚度(几纳米至几百纳米)的非晶硅层作为前驱体介质层;4)、在真空中或者氢气、氮气等非氧化性气氛中退火、温度在350℃‑400℃,激活的催化颗粒自发吸收周围的非晶硅,析出晶态硅,同时纳米线的生长方向发生周期性的变化,从而生长出zigzag形晶态纳米线。
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