[发明专利]二极管反向恢复时间的测试系统有效
| 申请号： | 201510506828.9 | 申请日： | 2015-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN106468756B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 胡永宏 | 申请（专利权）人： | 深圳艾克思科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙) 11604 | 代理人： | 张文平 |
| 地址： | 518126 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 二极管反向恢复时间的测试系统，属于电子器件测试领域，其结构包括电源转换部分1、开关电路部分2、脉宽驱动栅极部分3、高压驱动开关部分4、二极管测试部分5和示波器显示部分。电源转换部分连接到开关电源电路部分2和高压驱动开关部分4，所述开关电源电路部分2连接到脉宽驱动栅极部分电路3，脉宽驱动栅极部分电路3连接到高压驱动开关部分电路4，高压驱动开关部分电路4连接到二极管测试部分电路5，二极管测试部分电路5连接到示波器显示部分电路。其特征在于：模拟开关电压可调，从低压值的二极管到上千伏电压的二极管都能测量反向恢复时间。二极管反向恢复时间的测试电路其优点是：性能稳定可靠、操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 二极管 反向 恢复时间 测试 系统 | ||
【主权项】：
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