[发明专利]一种彩膜基板及其制作方法、显示装置有效
| 申请号： | 201510512949.4 | 申请日： | 2015-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN105093651B | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 吴鹏 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1335 | 分类号： | G02F1/1335 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种彩膜基板及其制作方法、显示装置，涉及显示技术领域，包括该彩膜基板的显示装置可以通过彩膜基板的衬底的过孔实现黑矩阵电压的测试，从而避免采用撬角方式测量黑矩阵电压，进而避免了显示装置的破损。一种彩膜基板，该彩膜基板包括衬底以及设置在所述衬底之上的黑矩阵，所述彩膜基板还包括设置在非显示区域的过孔，从所述衬底的一侧看过去，所述过孔露出所述黑矩阵与所述过孔相接触的部分。本发明适用于彩膜基板、包括该彩膜基板的显示装置的制作。 | ||
| 搜索关键词： | 彩膜基板 显示装置 黑矩阵 衬底 制作 非显示区域 破损 测量 测试 | ||
【主权项】：
1.一种彩膜基板，包括衬底以及设置在所述衬底之上的黑矩阵，其特征在于，所述彩膜基板还包括设置在非显示区域的过孔，从所述衬底的一侧看过去，所述过孔露出所述黑矩阵与所述过孔相接触的部分，从而将测试探针设置在所述过孔内，所述测试探针与所述黑矩阵相接触，获得所述黑矩阵的电压值。
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