[发明专利]半导体模块、用于抓取、移动和电测试半导体模块的方法在审
申请号: | 201510516143.2 | 申请日: | 2015-08-21 |
公开(公告)号: | CN105374760A | 公开(公告)日: | 2016-03-02 |
发明(设计)人: | R.科德斯;C.科赫;M.拉里施;S.申内滕 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/049 | 分类号: | H01L23/049;H01L21/66;H01L21/677;H01L21/687;G01R31/28 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 臧永杰;胡莉莉 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明的一方面涉及半导体模块(100)。该半导体模块包括具有四个侧壁(61、62、63、64)的外壳(6)以及在外壳(6)处所安装的具有上侧(2t)和与上侧(2t)相对的下侧(2b)的电路载体(2)。半导体芯片(1)被布置在上侧(2t)上和外壳(2t)中。被构造为凹处的第一抓取槽(71)从外壳(6)的外侧出发延伸到侧壁(61、62、63、64)的第一侧壁(61)中。 | ||
搜索关键词: | 半导体 模块 用于 抓取 移动 测试 方法 | ||
【主权项】:
半导体模块,其具有:具有四个侧壁(61、62、63、64)的外壳(6);在外壳(6)处所安装的电路载体(2),所述电路载体(2)具有上侧(2t)以及与上侧(2t)相对的下侧(2b);半导体芯片(1),所述半导体芯片(1)被布置在上侧(2t)上和外壳(2t)中;以及被构造为凹处的第一抓取槽(71),所述第一抓取槽(71)从外壳(6)的外侧出发延伸到侧壁(61、62、63、64)的第一侧壁(61)中。
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