[发明专利]一种微波测厚仪的测试方法在审

专利信息
申请号: 201510522195.0 申请日: 2015-08-24
公开(公告)号: CN106482676A 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 闫福利 申请(专利权)人: 黑龙江省康格尔科技有限公司
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150049 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开了一种微波测厚仪的测试方法,包括以下步骤步骤一测量臂的回路测试;步骤二补偿臂的回路测试;步骤三测量臂和补偿臂两路微波反射进入T形波导支路进行相位比较。本发明的微波测厚仪的测试方法,设计原理简单、容易操作、简便实用。
搜索关键词: 一种 微波 测厚仪 测试 方法
【主权项】:
一种微波测厚仪的测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一:测量臂的回路测试,在测量臂中,微波经第一环流器、第一传输波导送到上终端器,微波由上终端器发射到回被测金属体的上表面,全反射后回到上终止端器,经第一传输波导和第一环流器送到下终端器;相同的,下终端器将微波发射到被测金属体的下表面,全反射后回到下终端器然后经第一传输线及第一环流器再进入T形波导支路的平分臂;步骤二:补偿臂的回路测试,在补偿臂中,微波经第二环流器、第二传输波导送到上补偿短路器的短面,微波由上补偿短路器发射到下补偿短路器的短面,全反射后回到上补偿短路器,经第二传输波导和第二环流器送到T形波导支路的平分臂;相同的,微波经第二环流器、第二传输线送到上振动短路器的短面,微波由上振动短路发射到下振动短路器的短面,全反射后回到上振动短路器,经第二传输线和第二环流器再进入T形波导支路的平分臂;步骤三:测量臂和补偿臂两路微波反射进入T形波导支路进行相位比较,在T形波导支路分臂中反相迭加后由检波器输出;若测量臂、补偿臂的电长度相等,则电桥处于平衡状态,若被测金属厚度变化增加第一高度,电桥失去平衡,反射回到T形波导支路的反射波相角不在相同,进入T形波导支路分臂反相迭加不能相抵消,检波器便有输出,检波信号经放大器放大后推动可逆电机转动,使补偿短路器发生位移,直到电桥达到新的平衡。
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