[发明专利]一种测试电路在审
| 申请号： | 201510523948.X | 申请日： | 2015-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN105158672A | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 杨祎;廖宝斌;孟浩 | 申请（专利权）人： | 北京中科汉天下电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试电路，该测试电路包括：带chopper的运算放大电路，用于将输入的低频电压信号与失调电压信号分离并放大，输出放大的电压信号；过采样模拟数字转换器，用于将所述放大的电压信号转化为数字信号，并对所述数字信号进行滤波处理，输出滤波后的数字信号。该测试电路通过使用带chopper的运算放大电路将输入的低频电压信号与失调电压信号分离，然后通过采样模拟数字转换器将电压信号转化为数字信号，并对数字信号进行滤波处理，这不仅直接消除了失调电压信号的影响，避免了offset电压限制ADC的精度的问题，而且避免了直接对模拟电压信号进行滤波从而导致引入噪声的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种测试电路，其特征在于，该测试电路包括：带chopper的运算放大电路，用于将输入的低频电压信号与失调电压信号分离并放大，输出放大的电压信号；过采样模拟数字转换器，用于将所述放大的电压信号转化为数字信号，并对所述数字信号进行滤波处理，输出滤波后的数字信号。
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