[发明专利]通过测试数据实现芯片追溯的方法

摘要

本发明涉及一种通过测试数据实现芯片追溯的方法，其包括如下步骤：步骤1、将待测试芯片与测试机进行硬件连接，以便能对所述待测试芯片进行测试；步骤2、利用测试机进行测试，并在测试机生成所需的测试数据，所述测试数据内包含与每个通过测试芯片呈一一对应的唯一数值代码；步骤3、读取测试机内的测试数据，并根据测试数据内与测试芯片对应的数值代码实现对芯片追溯。本发明操作方便，能快速有效精确实现芯片的追溯，适应范围广，安全可靠。

主权项

一种通过测试数据实现芯片追溯的方法，其特征是，所述芯片追溯方法包括如下步骤：步骤1、将待测试芯片与测试机进行硬件连接，即将测试机的测试端口与测试接口板连接，测试接口板与探针卡连接，探针卡与待测试芯片连接，以实现测试机到待测试芯片之间的数据传输与测量，以便能对所述待测试芯片进行测试；步骤2、利用测试机进行测试，并在测试机生成所需的测试数据，所述测试数据内包含与每个通过测试的芯片呈一一对应的唯一数值代码；所述步骤2中，在对待测试芯片测试时，先确定初始数据，并在有待测试芯片通过测试时，利用数值累加法对初始数据进行累加计数，以得到与每个通过测试的芯片呈一一对应的唯一数值代码；步骤3、读取测试机内的测试数据，并根据测试数据内与测试芯片对应的数值代码实现对芯片追溯；熔丝累加测试以及验证的过程为：步骤1）、熔丝累加烧写测试前需要判定所有熔丝管脚的扎针良好，其中熔丝烧写理解为地址码选择；如果扎针良好则继续下一步，如果扎针不良则不进行熔丝累加烧写；步骤2）、调取编码文件的起始数据，起始数据规定为大于等于零的整数，文件数据放在具体的文件夹中；步骤3）、直接在要烧写的熔丝与地线之间施加合适的电压，产生的电流对熔丝进行烧写，施加的电压大小需要通过调试得到一个较合适的值，测试软件的烧写电压为3.6V；步骤4）、烧写完成之后会生成唯一数值代码，并对烧写结果进行验证测试；首先需要验证所烧写的熔丝是否正确，需要通过继电器将所有熔丝PAD对VCC接10K上拉电阻，验证是否熔断时，闭合对应位继电器，测量该熔丝对应的PAD是否为高电平即高电压值；步骤5）、通过唯一的数值代码追溯相应的测试芯片。