[发明专利]用于磁共振成像系统的梯度涡流校正方法和装置有效
| 申请号： | 201510527333.4 | 申请日： | 2015-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN106483482B | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 李博;贾二维;邢晓聪;徐恺频 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/385 | 分类号： | G01R33/385 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 周敏 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于磁共振成像系统的梯度涡流校正方法及装置，包括：建立涡流场模型，所述涡流场模型使用拉普拉斯变换来表示涡流场；采集涡流测量数据并使用所述涡流场模型对所述涡流测量数据进行处理以获取所述涡流场模型的初始参数值；根据所述涡流测量数据和所述初始参数值拟合所述涡流场模型的参数值，以获得标定涡流场模型；根据所述标定涡流场模型对梯度涡流进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 磁共振 成像 系统 梯度 涡流 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于磁共振成像系统的梯度涡流校正方法，其特征在于，包括：建立涡流场模型，所述涡流场模型使用拉普拉斯变换来表示涡流场；采集涡流测量数据并使用所述涡流场模型对所述涡流测量数据进行处理以获取所述涡流场模型的初始参数值；根据所述涡流测量数据和所述初始参数值拟合所述涡流场模型的参数值，以获得标定涡流场模型；以及根据所述标定涡流场模型对梯度涡流进行校正，其中所述涡流测量数据包括线性部分和非线性部分。
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