[发明专利]一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法

摘要

一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法，本发明涉及测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统及方法。本发明是为了解决现有方法对仪器设备要求较高，测量时间较长，仅适用于短距离保偏光纤平均双折射的测量，操作较为复杂，以及无法测量长距离保偏光纤的平均双折射及其温度系数的问题。通过以下技术方案实现的由光源1，光源2，环形器，PC1，PC2，滤波器，数据采集装置，温控设备，电光调制器1和电光调制器2组成；一、调节与采集信号；二、采用控温设备使保偏光纤温度分别在‑40℃，‑20℃，0℃，20℃，40℃，60℃时，测量快轴和慢轴产生的布里渊散射信号；三、数据处理。本发明应用于光学测量领域。

主权项

一种测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统，其特征在于：所述的测量保偏光纤平均双折射及其温度系数的系统由光源1，光源2，环形器，偏振控制器PC1或偏振连接器1，偏振控制器PC2或偏振连接器2，滤波器，数据采集装置，温控设备，电光调制器1和电光调制器2组成；光源1通过电光调制器1与环形器的泵浦光输入端(1)相连，环形器的混合光端(2)通过偏振控制器PC1或偏振连接器1与待测保偏光纤相连，待测保偏光纤通过偏振控制器PC2或偏振连接器2与经过电光调制器2的光源2相连，滤波器和环形器的混合光输出端(3)相连，数据采集装置和滤波器相连；待测保偏光纤放入温控设备内；光源1经电光调制器1调制后产生一束泵浦光，光源2经电光调制器2调制后产生两束上下边频带探测光；其中，上下边频带探测光为不同频率的探测光，两束探测光与泵浦光的频率差相同；环形器用于将泵浦光从环形器的泵浦光输入端(1)进入，从环形器的混合光端(2)输出，再进入待测保偏光纤中与探测光相遇并产生受激布里渊散射，然后将产生的受激布里渊散射信号从环形器的混合光端(2)进入，从环形器的混合光输出端(3)输出，滤波器用于滤掉探测光经过电光调制器2后产生的上下边频带探测光中上边频带探测光与泵浦光相互作用后产生的布里渊散射信号，保留下边频带探测光与泵浦光作用产生的布里渊散射信号，数据采集装置用于采集下边频带探测光与泵浦光作用产生的布里渊散射信号，温控设备用于调控待测保偏光纤的温度，偏振控制器PC1和偏振连接器1用于控制泵浦光的偏振态，偏振控制器PC2和偏振连接器2用于控制探测光的偏振态。