[发明专利]防伪颗粒结晶体、制备防伪颗粒结晶体的方法及装置在审
申请号: | 201510528352.9 | 申请日: | 2015-08-25 |
公开(公告)号: | CN105235407A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 郑国义 | 申请(专利权)人: | 郑国义 |
主分类号: | B41M3/14 | 分类号: | B41M3/14;B41M7/00;B41J2/01;B41J3/00 |
代理公司: | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人: | 李俊 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种防伪颗粒结晶体、制备防伪颗粒结晶体的方法及装置,其中方法包括如下步骤:(1)制备产品指纹体,所述产品指纹体为尺寸介于2微米至100微米之间的片状颗粒或不对称的三维颗粒;(2)产品指纹体与胶体的离散化处理;(3)侧边双料筒供胶系统向被标识物不间地断喷全透明胶滴;(4)检测不良品,若发现不良品则剔除,若是良品则提取良品图像特征值,并进行UV固化。本发明的应用范围更为广泛,被标识物与滴胶体的融合度更高,离散性更好,更容易辨识。 | ||
搜索关键词: | 防伪 颗粒 结晶体 制备 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种制备防伪颗粒结晶体的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)制备产品指纹体,所述产品指纹体为尺寸介于2微米至100微米之间的片状颗粒或不对称的三维颗粒;(2)产品指纹体与胶体的离散化处理;(3)侧边双料筒供胶系统向被标识物不间地断喷全透明胶滴;(4)检测不良品,若发现不良品则剔除,若是良品则提取良品图像特征值,并进行UV固化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郑国义,未经郑国义许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510528352.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:大角度转轴
- 下一篇:一种反光卡纸的套印方法