[发明专利]单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 201510529685.3 | 申请日： | 2015-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN105043948B | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | 白本锋;肖晓飞 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司44311 | 代理人： | 娜拉 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源，载物台，物镜，凸透镜，CCD及其控制器，数据线以及显示及处理单元，所述光源发出的光经过物镜入射到载物台表面，并且经过散射后经物镜、凸透镜后，在CCD及其控制器上成像，经数据线输入显示及处理单元，其特征在于，进一步包括一环形光阑，环形反射镜，所述光发出平行光经过环形光阑后将形成中空的环形光柱，经环形反射镜后将被反射进入物镜，经物镜的作用汇聚到载物台。本发明进一步涉及一种利用上述单个纳米颗粒粒径的测量系统测量单个纳米颗粒粒径的测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 单个 纳米 颗粒 粒径 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种单个纳米颗粒粒径的测量系统，包括一光源，载物台，物镜，凸透镜，CCD及其控制器，数据线以及显示及处理单元，所述光源发出的光经过物镜入射到载物台表面，并且经过散射后经物镜、凸透镜后，在CCD及其控制器上成像，经数据线输入显示及处理单元，其特征在于，进一步包括一环形光阑，及一环形反射镜，所述光发出平行光经过环形光阑后将形成中空的环形光柱，经环形反射镜后被反射进入物镜，经物镜的作用汇聚到载物台。
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